| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题的来源及研究的意义 | 第11页 |
| ·涂层厚度测量仪概述 | 第11-14页 |
| ·镀涂层测厚技术的发展现状 | 第12-13页 |
| ·磁性镀涂层测厚仪开发现状 | 第13-14页 |
| ·主文的主要内容 | 第14-15页 |
| 第2章 涂层测厚仪的测量电路设计 | 第15-26页 |
| ·设计要求与性能指标 | 第15页 |
| ·传感器测量原理 | 第15-17页 |
| ·测量电路的设计 | 第17-25页 |
| ·传感器的设计 | 第17-20页 |
| ·激磁电路的设计 | 第20-22页 |
| ·信号处理单元的设计 | 第22-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 涂层测厚仪的单片机控制电路设计 | 第26-41页 |
| ·MSP430F149 单片机核心电路 | 第26-34页 |
| ·晶振电路 | 第28-29页 |
| ·复位电路 | 第29-30页 |
| ·电源电路 | 第30-31页 |
| ·实时时钟电路 | 第31-33页 |
| ·A/D 转换 | 第33-34页 |
| ·USB 接口电路 | 第34-38页 |
| ·USB 接口芯片CH375 介绍 | 第35-36页 |
| ·USB 接口电路 | 第36-38页 |
| ·液晶显示电路 | 第38-39页 |
| ·按键电路 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 嵌入式平台的构建 | 第41-52页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第41-43页 |
| ·嵌入式实时系统 | 第41页 |
| ·嵌入式实时多任务操作系统 | 第41-42页 |
| ·嵌入式微处理器 | 第42-43页 |
| ·ΜC/OS-II 实时操作系统 | 第43-46页 |
| ·ΜC/OS-II 在MSP430F149 上的移植 | 第46-51页 |
| ·移植的必要性和可行性 | 第46-47页 |
| ·μC/OS-II 与硬件和软件的结构关系 | 第47-48页 |
| ·μC/OS-II 在MSP430F149 上的移植 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 测厚仪的软件设计 | 第52-63页 |
| ·基于ΜC/OS-II 的实时多任务编程思想 | 第52页 |
| ·厚度测量仪的任务分析及主程序的设计 | 第52-53页 |
| ·厚度测量仪的应用程序的设计 | 第53-62页 |
| ·按键扫描模块 | 第55-56页 |
| ·A/D 转换模块 | 第56-57页 |
| ·液晶显示模块 | 第57-59页 |
| ·实时时钟模块 | 第59-61页 |
| ·USB 通信模块 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第6章 系统测试与误差分析 | 第63-68页 |
| ·基于嵌入式系统磁法涂层测厚仪的测试实验 | 第63-65页 |
| ·实验数据的得出 | 第63-64页 |
| ·测量精度的分析 | 第64-65页 |
| ·主要误差分析 | 第65-67页 |
| ·误差分析 | 第65-66页 |
| ·减小误差的措施 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |