扫描电化学显微镜电子控制系统的研究
目录 | 第1-7页 |
摘要 | 第7-9页 |
ABSTRACT | 第9-11页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
·引言 | 第11-12页 |
·纳米科技的发展趋势 | 第11页 |
·扫描探针显微镜 | 第11-12页 |
·扫描电化学显微镜的发展及应用 | 第12-14页 |
·课题研究内容 | 第14-15页 |
第二章 SECM的工作机理及总体设计 | 第15-21页 |
·SECM的基本工作原理 | 第15-17页 |
·SECM的工作原理 | 第15-16页 |
·渐进曲线 | 第16-17页 |
·总体设计 | 第17-20页 |
·实验装置组成 | 第17-18页 |
·SECM各个组成部分 | 第18-20页 |
·本章小结 | 第20-21页 |
第三章 压电陶瓷驱动电源 | 第21-33页 |
·引言 | 第21-22页 |
·驱动电源电路的方案设计 | 第22-23页 |
·压电陶瓷致动器对驱动电源的要求 | 第22页 |
·驱动电源方案 | 第22-23页 |
·驱动电源线性放大电路 | 第23-27页 |
·集成运算放大器的选定 | 第23-25页 |
·输入失调电压的补偿 | 第25页 |
·电路参数计算 | 第25-26页 |
·相位补偿 | 第26-27页 |
·高压稳压电路 | 第27-28页 |
·实验测试结果及分析 | 第28-31页 |
·本章小结 | 第31-33页 |
第四章 微电流检测电路 | 第33-51页 |
·微电流检测电路原理 | 第33-39页 |
·恒电位仪 | 第33-34页 |
·恒电位仪的设计要求 | 第34-36页 |
·恒电位仪的基本结构 | 第36-39页 |
·双恒电位仪的设计 | 第39-45页 |
·参考电极虚地的新型双恒电位仪 | 第40-42页 |
·电位控制部分放大器的选择 | 第42页 |
·微电流检测单元 | 第42-45页 |
·微电流检测电路 | 第45-46页 |
·实验测试结果及分析 | 第46-49页 |
·本章小结 | 第49-51页 |
第五章 控制系统硬件设计 | 第51-65页 |
·ARM微控制器介绍 | 第51页 |
·系统硬件电路设计 | 第51-54页 |
·系统时钟电路 | 第51-52页 |
·JTAG接口电路 | 第52页 |
·复位电路 | 第52-53页 |
·系统电源电路 | 第53-54页 |
·精密参考电压源 | 第54页 |
·程控电压源的设计 | 第54-57页 |
·AD5542的内部结构和特性 | 第54-55页 |
·程控电压源的设计 | 第55-57页 |
·A/D转换接口设计 | 第57-60页 |
·MAX195的内部结构和特性 | 第57-59页 |
·A/D转换电路设计 | 第59-60页 |
·USB通信电路的设计 | 第60-62页 |
·CP2102的特性 | 第60-61页 |
·电路设计 | 第61-62页 |
·硬件系统抗干扰设计 | 第62-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第六章 软件开发 | 第65-73页 |
·系统软件设计分析 | 第65-66页 |
·应用程序开发 | 第66-70页 |
·启动代码 | 第66页 |
·扫描驱动子程序 | 第66-67页 |
·DA转换子程序 | 第67-68页 |
·AD采样子程序 | 第68-69页 |
·USB通信协议 | 第69-70页 |
·软件抗干扰措施 | 第70-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结论 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
致谢 | 第79-81页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第81-82页 |
学位论文评阅及答辩情况表 | 第82页 |