压延机产品测量控制系统的研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·压延机的发展简史 | 第7-8页 |
·薄膜制品的发展趋势 | 第8-9页 |
·薄膜测厚设备的发展现状 | 第9-12页 |
·论文内容简介 | 第12-13页 |
第二章 压延机产品测量设备的机械结构 | 第13-22页 |
·压延机产品在线测量设备 | 第13-15页 |
·概述 | 第13页 |
·外观及各部分名称 | 第13-15页 |
·伺服系统 | 第15-18页 |
·伺服电机 | 第15-16页 |
·伺服放大器 | 第16-18页 |
·滚珠丝杠与直线导轨 | 第18-21页 |
·滚珠丝杠 | 第18-19页 |
·直线导轨 | 第19-21页 |
·机械结构系统 | 第21-22页 |
第三章 压延机产品测量控制系统 | 第22-38页 |
·电机控制卡主要功能及实现方案 | 第22-28页 |
·单片机测量控制系统 | 第28-31页 |
·单片机简介 | 第28-29页 |
·单片机软件设计 | 第29-31页 |
·LabVIEW 界面测量控制系统 | 第31-36页 |
·LabVIEW简介 | 第31-33页 |
·LabVIEW 控制流程 | 第33页 |
·LabVIEW 程序功能简介 | 第33-36页 |
·测量设备使用操作步骤 | 第36-37页 |
·开机操作步骤 | 第36页 |
·关机操作步骤 | 第36-37页 |
·使用注意事项 | 第37-38页 |
第四章 标定实验与数据分析 | 第38-51页 |
·补偿原理 | 第38-39页 |
·丝杠一维数组数据 | 第39-41页 |
·滚筒二维数组数据 | 第41-43页 |
·数组叠加 | 第43-44页 |
·实验数据分析 | 第44-51页 |
第五章 薄膜相对介电常数测量仪器的设计 | 第51-59页 |
·系统工作原理 | 第51-52页 |
·系统结构组成 | 第52-55页 |
·实验结果及数据分析 | 第55-58页 |
·结束语 | 第58-59页 |
第六章 课题总结与展望 | 第59-61页 |
·本课题的主要工作总结 | 第59页 |
·技术展望 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |
发表论文和科研情况说明 | 第64-65页 |
致谢 | 第65页 |