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压延机产品测量控制系统的研究

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·压延机的发展简史第7-8页
   ·薄膜制品的发展趋势第8-9页
   ·薄膜测厚设备的发展现状第9-12页
   ·论文内容简介第12-13页
第二章 压延机产品测量设备的机械结构第13-22页
   ·压延机产品在线测量设备第13-15页
     ·概述第13页
     ·外观及各部分名称第13-15页
   ·伺服系统第15-18页
     ·伺服电机第15-16页
     ·伺服放大器第16-18页
   ·滚珠丝杠与直线导轨第18-21页
     ·滚珠丝杠第18-19页
     ·直线导轨第19-21页
   ·机械结构系统第21-22页
第三章 压延机产品测量控制系统第22-38页
   ·电机控制卡主要功能及实现方案第22-28页
   ·单片机测量控制系统第28-31页
     ·单片机简介第28-29页
     ·单片机软件设计第29-31页
   ·LabVIEW 界面测量控制系统第31-36页
     ·LabVIEW简介第31-33页
     ·LabVIEW 控制流程第33页
     ·LabVIEW 程序功能简介第33-36页
   ·测量设备使用操作步骤第36-37页
     ·开机操作步骤第36页
     ·关机操作步骤第36-37页
   ·使用注意事项第37-38页
第四章 标定实验与数据分析第38-51页
   ·补偿原理第38-39页
   ·丝杠一维数组数据第39-41页
   ·滚筒二维数组数据第41-43页
   ·数组叠加第43-44页
   ·实验数据分析第44-51页
第五章 薄膜相对介电常数测量仪器的设计第51-59页
   ·系统工作原理第51-52页
   ·系统结构组成第52-55页
   ·实验结果及数据分析第55-58页
   ·结束语第58-59页
第六章 课题总结与展望第59-61页
   ·本课题的主要工作总结第59页
   ·技术展望第59-61页
参考文献第61-64页
发表论文和科研情况说明第64-65页
致谢第65页

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