| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·非制冷红外焦平面阵列技术的发展 | 第10-12页 |
| ·国内外的发展 | 第10-12页 |
| ·未来的发展 | 第12页 |
| ·非制冷红外焦平面阵列探测器读出电路的研究概况 | 第12-13页 |
| ·本文的研究背景和意义 | 第13-14页 |
| ·本文的内容 | 第14-16页 |
| 第二章 非制冷红外焦平面阵列的基本理论 | 第16-35页 |
| ·红外辐射特性 | 第16-18页 |
| ·非制冷焦平面阵列探测理论 | 第18-26页 |
| ·非制冷焦平面阵列探测器的原理 | 第18-19页 |
| ·非制冷焦平面阵列探测器的简单数学模型 | 第19-26页 |
| ·非制冷红外焦平面阵列的非均匀性 | 第26-34页 |
| ·非均匀性的来源和定义 | 第26-28页 |
| ·非均匀性的特点 | 第28页 |
| ·传统的非均匀性校正技术 | 第28-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 第三章 无TEC 非制冷红外焦平面读出电路系统的结构设计 | 第35-54页 |
| ·热电制冷器（TEC） | 第35-40页 |
| ·TEC 的介绍 | 第35-36页 |
| ·TEC 的功耗问题 | 第36-39页 |
| ·去除TEC 对非均匀校正的影响 | 第39-40页 |
| ·无TEC 非制冷红外焦平面阵列的片上非均匀性校正 | 第40-49页 |
| ·片上非均匀性校正技术的介绍 | 第40-41页 |
| ·脉冲偏压校正技术的建模与数值分析 | 第41-47页 |
| ·校正系数的标定 | 第47-49页 |
| ·无TEC 读出电路系统结构设计 | 第49-53页 |
| ·读出电路的系统结构 | 第49-51页 |
| ·读出电路的工作流程 | 第51-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第四章 无TEC 非制冷红外焦平面探测器读出电路的设计 | 第54-78页 |
| ·多路开关阵列 | 第54-55页 |
| ·读出通道 | 第55-63页 |
| ·前端偏置电路部分 | 第55-58页 |
| ·积分电路部分 | 第58-61页 |
| ·采样/保持电路 | 第61-63页 |
| ·输出缓冲电路 | 第63-67页 |
| ·脉冲偏压校正电路 | 第67-70页 |
| ·带隙基准电压源 | 第70-74页 |
| ·温度传感器 | 第74-76页 |
| ·小结 | 第76-78页 |
| 第五章 读出电路的仿真和分析 | 第78-90页 |
| ·读出通道的仿真结果 | 第78-84页 |
| ·输出缓冲电路的仿真结果 | 第84-86页 |
| ·带隙基准电压源的仿真结果 | 第86-88页 |
| ·温度传感器的仿真结果 | 第88页 |
| ·小结 | 第88-90页 |
| 第六章 总结与展望 | 第90-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-98页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第98-99页 |
