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基于LEON3的高可靠体系结构设计关键技术研究

摘要第1-12页
ABSTRACT第12-13页
第一章 绪论第13-17页
   ·课题背景第13页
   ·国内外研究现状第13-15页
   ·课题研究内容第15页
   ·文章的组织结构第15-17页
第二章 高可靠处理器设计研究第17-25页
   ·空间辐射环境和对处理器的影响第17-20页
     ·空间辐射环境第17-18页
     ·空间辐射效应对处理器可靠性的影响第18-20页
   ·高可靠处理器设计方法学第20-24页
     ·抗辐照材料第21页
     ·Radiation Hardened Design第21-22页
     ·COTS 体系结构高可靠设计技术第22-23页
     ·本文主要解决的问题和采用的设计技术第23-24页
   ·本章小结第24-25页
第三章 基于故障注入的可靠性评估技术研究第25-45页
   ·可靠性评估技术研究第25-27页
     ·可靠性评估分类第25-26页
     ·故障注入技术第26-27页
   ·基于软件故障注入的可靠性评估研究第27-30页
     ·软件故障注入评估硬件故障的原理第27-28页
     ·软件故障注入评估技术的体系结构第28-29页
     ·当前国内外的主要基于软件的故障注入技术和工具第29页
     ·软件故障注入的优缺点分析第29-30页
   ·基于硬件故障注入的可靠性评估研究第30-33页
     ·硬件故障注入分类第30-31页
     ·当前国内外主要基于硬件故障注入主要技术和工具第31-32页
     ·硬件故障注入的优缺点分析第32-33页
   ·基于RTL 故障注入的可靠性评估平台设计第33-40页
     ·基于RTL 故障注入手段第33页
     ·基于RTL 故障注入工作流程第33-34页
     ·基于RTL 故障注入体系结构RTLFIA第34-39页
     ·RTLFIA 的实现方案第39-40页
   ·基于RTL 故障注入的LEON3 可靠性评估第40-43页
     ·LEON3 主要SEU 敏感单元分析第40页
     ·基于ModelSim LEON3 RTL 故障注入实验平台第40-41页
     ·可靠性评估参数第41-42页
     ·实际评估和评估结果第42-43页
   ·本章小结第43-45页
第四章 高可靠处理器的IU 原型设计与实现第45-64页
   ·LEON3 IU SEU 问题可靠性设计手段研究第45-47页
     ·寄存器文件(regfile)可靠性设计第45-46页
     ·流水线上的锁存器(pipeline latches)可靠性设计第46-47页
   ·Hamming 码技术研究第47-49页
     ·基本Hamming 码算法第47-49页
     ·扩展Hamming 码算法第49页
   ·三模冗余技术研究第49-55页
     ·三模冗余技术原理及可靠度分析第49-52页
     ·三模冗余技术的改进:块三模冗余技术第52-55页
   ·高可靠IU(HRIU)设计与实现第55-63页
     ·HRIU 流水线总体结构第55-57页
     ·Hamming 码在HRIU 中的实现第57-60页
     ·Block-TMR 在HRIU 中的实现第60-61页
     ·可靠性验证和代价分析第61-63页
   ·本章小结第63-64页
第五章 高可靠处理器控制流故障检测技术研究第64-79页
   ·不同耦合下的控制流故障检测模型第64-69页
     ·YHME 星载计算机体系结构第64-66页
     ·一种基于WatchDog 的板级控制流故障检测模型第66-68页
     ·一种片内控制流故障检测模型第68-69页
   ·基本块理论研究及改进第69-72页
     ·基本块理论第69-71页
     ·改进型基本块理论第71-72页
   ·控制流故障检测算法的改进第72-77页
     ·原有的控制流故障检测算法第72-73页
     ·KDCFCA 算法第73-77页
   ·本章小结第77-79页
第六章 结束语第79-81页
致谢第81-82页
参考文献第82-85页
作者在学期间取得的学术成果第85页

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