摘要 | 第1-12页 |
ABSTRACT | 第12-13页 |
第一章 绪论 | 第13-17页 |
·课题背景 | 第13页 |
·国内外研究现状 | 第13-15页 |
·课题研究内容 | 第15页 |
·文章的组织结构 | 第15-17页 |
第二章 高可靠处理器设计研究 | 第17-25页 |
·空间辐射环境和对处理器的影响 | 第17-20页 |
·空间辐射环境 | 第17-18页 |
·空间辐射效应对处理器可靠性的影响 | 第18-20页 |
·高可靠处理器设计方法学 | 第20-24页 |
·抗辐照材料 | 第21页 |
·Radiation Hardened Design | 第21-22页 |
·COTS 体系结构高可靠设计技术 | 第22-23页 |
·本文主要解决的问题和采用的设计技术 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 基于故障注入的可靠性评估技术研究 | 第25-45页 |
·可靠性评估技术研究 | 第25-27页 |
·可靠性评估分类 | 第25-26页 |
·故障注入技术 | 第26-27页 |
·基于软件故障注入的可靠性评估研究 | 第27-30页 |
·软件故障注入评估硬件故障的原理 | 第27-28页 |
·软件故障注入评估技术的体系结构 | 第28-29页 |
·当前国内外的主要基于软件的故障注入技术和工具 | 第29页 |
·软件故障注入的优缺点分析 | 第29-30页 |
·基于硬件故障注入的可靠性评估研究 | 第30-33页 |
·硬件故障注入分类 | 第30-31页 |
·当前国内外主要基于硬件故障注入主要技术和工具 | 第31-32页 |
·硬件故障注入的优缺点分析 | 第32-33页 |
·基于RTL 故障注入的可靠性评估平台设计 | 第33-40页 |
·基于RTL 故障注入手段 | 第33页 |
·基于RTL 故障注入工作流程 | 第33-34页 |
·基于RTL 故障注入体系结构RTLFIA | 第34-39页 |
·RTLFIA 的实现方案 | 第39-40页 |
·基于RTL 故障注入的LEON3 可靠性评估 | 第40-43页 |
·LEON3 主要SEU 敏感单元分析 | 第40页 |
·基于ModelSim LEON3 RTL 故障注入实验平台 | 第40-41页 |
·可靠性评估参数 | 第41-42页 |
·实际评估和评估结果 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-45页 |
第四章 高可靠处理器的IU 原型设计与实现 | 第45-64页 |
·LEON3 IU SEU 问题可靠性设计手段研究 | 第45-47页 |
·寄存器文件(regfile)可靠性设计 | 第45-46页 |
·流水线上的锁存器(pipeline latches)可靠性设计 | 第46-47页 |
·Hamming 码技术研究 | 第47-49页 |
·基本Hamming 码算法 | 第47-49页 |
·扩展Hamming 码算法 | 第49页 |
·三模冗余技术研究 | 第49-55页 |
·三模冗余技术原理及可靠度分析 | 第49-52页 |
·三模冗余技术的改进:块三模冗余技术 | 第52-55页 |
·高可靠IU(HRIU)设计与实现 | 第55-63页 |
·HRIU 流水线总体结构 | 第55-57页 |
·Hamming 码在HRIU 中的实现 | 第57-60页 |
·Block-TMR 在HRIU 中的实现 | 第60-61页 |
·可靠性验证和代价分析 | 第61-63页 |
·本章小结 | 第63-64页 |
第五章 高可靠处理器控制流故障检测技术研究 | 第64-79页 |
·不同耦合下的控制流故障检测模型 | 第64-69页 |
·YHME 星载计算机体系结构 | 第64-66页 |
·一种基于WatchDog 的板级控制流故障检测模型 | 第66-68页 |
·一种片内控制流故障检测模型 | 第68-69页 |
·基本块理论研究及改进 | 第69-72页 |
·基本块理论 | 第69-71页 |
·改进型基本块理论 | 第71-72页 |
·控制流故障检测算法的改进 | 第72-77页 |
·原有的控制流故障检测算法 | 第72-73页 |
·KDCFCA 算法 | 第73-77页 |
·本章小结 | 第77-79页 |
第六章 结束语 | 第79-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-85页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第85页 |