组合相干电容层析成像系统的研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-11页 |
1 绪论 | 第11-17页 |
·过程层析成像的发展历程 | 第11-12页 |
·过程层析成像的特点、用途和构成 | 第12-15页 |
·过程层析成像技术的研究现状 | 第15-16页 |
·本课题研究内容 | 第16-17页 |
2 电容层析成像原理及成像系统 | 第17-24页 |
·成像测量原理 | 第17-20页 |
·成像系统组成 | 第20-24页 |
·传感器系统 | 第21-22页 |
·数据采集系统 | 第22-23页 |
·成像系统 | 第23-24页 |
3 ECT系统硬件设计 | 第24-59页 |
·ECT硬件系统的总体说明 | 第24-25页 |
·微电容检测电路设计 | 第25-28页 |
·模式选择电路 | 第28-31页 |
·模式选择电路方法 | 第28-30页 |
·可编程逻辑芯片的程序设计 | 第30-31页 |
·系统硬件电路的集成化设计 | 第31页 |
·信号发生器的设计 | 第31-33页 |
·嵌位电路及锁相环电路 | 第33-40页 |
·锁相环基本原理 | 第34-35页 |
·CD4046的工作原理及参数设计 | 第35-37页 |
·同步检波电路 | 第37-39页 |
·90度相移电路的设计 | 第39-40页 |
·相敏解调电路 | 第40-43页 |
·相关检测工作原理 | 第41-42页 |
·模拟乘法器 AD734简介 | 第42-43页 |
·AD734工作电路及参数设计 | 第43页 |
·低通滤波电路 | 第43-45页 |
·增益可控差动电路 | 第45-47页 |
·AD620的基本特点 | 第45-46页 |
·可编程增益放大器 | 第46-47页 |
·D/A补偿电路 | 第47-51页 |
·D/A转换器 MAX526简介 | 第48页 |
·引脚说明 | 第48-49页 |
·MAX526电路设计 | 第49-51页 |
·A/D测量电路 | 第51-54页 |
·A/D转换器 AD7892简介 | 第51页 |
·AD7892的电路设计 | 第51-54页 |
·单片机控制处理电路 | 第54-56页 |
·单片机 P89C51RD2 | 第54-55页 |
·并行口扩展电路 | 第55页 |
·通信电路 | 第55-56页 |
·数据采集系统的性能指标 | 第56-59页 |
·系统分辨率 | 第56-58页 |
·系统的响应时间 | 第58-59页 |
4 系统软件设计 | 第59-63页 |
·主程序的设计 | 第59-60页 |
·耦合电容测量模块设计 | 第60-61页 |
·数据采集模块设计 | 第61-62页 |
·通讯模块的设计 | 第62-63页 |
5 实验与结果分析 | 第63-66页 |
·线性度与灵敏度实验 | 第63-64页 |
·杂散电容对 C/V转换电路影响的实验 | 第64-66页 |
6 结论 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-71页 |
在学研究成果 | 第71-72页 |
致谢 | 第72页 |