全文摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-20页 |
·本课题研究的背景和意义 | 第10-16页 |
·本课题研究的背景 | 第10-15页 |
·串励电机概述 | 第10-11页 |
·串励电机的绝缘性能测试 | 第11-14页 |
·换向器片间绝缘材料及其介电强度试验 | 第14-15页 |
·本课题的意义 | 第15-16页 |
·国内外研究现状 | 第16-18页 |
·国内外检测仪的使用现状 | 第16-17页 |
·检测仪的构成 | 第17-18页 |
·换向器的驱动方式 | 第17页 |
·高压电的产生方式 | 第17-18页 |
·漏电流的检测与控制 | 第18页 |
·本课题的研究要求和内容 | 第18-20页 |
·本课题的研究要求 | 第18-19页 |
·本课题的研究内容 | 第19-20页 |
第二章 自动检测仪的机械结构设计 | 第20-29页 |
·检测仪机械结构设计概述 | 第20-21页 |
·检测仪的功能需求 | 第20页 |
·检测仪的机械结构总图 | 第20-21页 |
·检测仪机械结构的具体设计和方案分析 | 第21-25页 |
·换向器的固定和旋转动作的实现 | 第21-22页 |
·检测仪探针组件的设计 | 第22-25页 |
·探针横向间距的调节机构 | 第23页 |
·探针的自动顶紧和高低调节机构 | 第23-25页 |
·换向器的安放定位装置 | 第25页 |
·检测仪的人机工程设计 | 第25-28页 |
·人机工程学概述 | 第25页 |
·检测仪的人机工程设计 | 第25-28页 |
·人机界面的设计 | 第25-26页 |
·安全可靠性的设计 | 第26-28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第三章 检测仪的电气自动控制系统的设计 | 第29-43页 |
·检测仪微控制器的特性 | 第29-30页 |
·单片机概述 | 第29页 |
·MCS-51单片机的结构性能特点 | 第29-30页 |
·控制系统的电气原理图 | 第30-31页 |
·检测仪各功能模块的分析设计 | 第31-37页 |
·电源的模块设计 | 第31页 |
·弱电控制模块的设计 | 第31-36页 |
·检测参数的调节和显示 | 第32-33页 |
·换向器片间介电强度的检测 | 第33-35页 |
·步进电机的控制 | 第35-36页 |
·检测仪强电模块的设计 | 第36-37页 |
·设计方案叙述 | 第36-37页 |
·电路设计参数的选择 | 第37页 |
·检测仪控制系统抗干扰设计 | 第37-42页 |
·本控制系统中的电磁兼容及电磁干扰问题 | 第37-38页 |
·电快速瞬变群脉冲干扰及其抑制 | 第38-40页 |
·浪涌干扰及其抑制 | 第40页 |
·PCB布板中的抗干扰设计 | 第40-41页 |
·其他抗干扰设计 | 第41-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
第四章 自动检测仪的软件设计 | 第43-50页 |
·软件设计的主要原则 | 第43页 |
·检测仪的检测流程 | 第43-44页 |
·主程序的设计 | 第44-45页 |
·中断服务程序的设计 | 第45-46页 |
·检测仪的检测参数设定子程序 | 第46-48页 |
·检测仪的控制软件的其它子程序 | 第48-49页 |
·其余参数调节子程序 | 第48页 |
·换向器片间介电强度的检测子程序 | 第48-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第五章 换向器片间介电强度的可靠性筛选理论及试验初探 | 第50-66页 |
·可靠性理论概述 | 第50-60页 |
·可靠性的基本概念与主要数量特征 | 第50-53页 |
·可靠度及可靠度函数 | 第50页 |
·失效密度函数及累积失效分布函数 | 第50-51页 |
·失效率及失效率函数 | 第51-52页 |
·平均寿命及寿命标准离差 | 第52-53页 |
·常用的寿命分布及其实用背景 | 第53-57页 |
·指数分布 | 第53-54页 |
·威布尔分布 | 第54-56页 |
·正态分布 | 第56-57页 |
·可靠性筛选试验 | 第57-60页 |
·可靠性筛选的特点 | 第57-58页 |
·筛选时间的确定 | 第58-60页 |
·换向器片间绝缘失效分析 | 第60-61页 |
·摸底试验的设计 | 第61-65页 |
·摸底试验的目的和意义 | 第61页 |
·摸底试验的目的 | 第61页 |
·摸底试验的意义 | 第61页 |
·摸底试验的条件 | 第61-62页 |
·环境条件 | 第61页 |
·试验电源和筛选应力 | 第61-62页 |
·换向器的转速和允许漏电流的设定 | 第62页 |
·摸底试验的方法 | 第62页 |
·摸底试验的数据处理和分析 | 第62-65页 |
·描点、绘线 | 第62-63页 |
·计算T~*的估计值 | 第63-64页 |
·老化筛选时间T~*的置信上限估计值 | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第六章 结论与展望 | 第66-68页 |
·结论 | 第66-67页 |
·展望 | 第67-68页 |
附图 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士学位期间已发表(投寄)的论文 | 第73页 |
攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第73-74页 |
致谢 | 第74页 |