微测辐射热计非均匀性及新型校正读出电路研究
| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-11页 |
| 1 绪论 | 第11-23页 |
| ·论文工作的目的和意义 | 第11-13页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列技术 | 第13-19页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列技术的现状 | 第13-16页 |
| ·非致冷红外焦平面阵列技术的应用 | 第16-19页 |
| ·微测辐射热计的发展与现状 | 第19-21页 |
| ·论文的研究内容 | 第21-23页 |
| 2 微测辐射热计的成像原理 | 第23-41页 |
| ·热辐射的概念 | 第23-26页 |
| ·微测辐射热计的探测机理和结构 | 第26-29页 |
| ·探测器参数和性能指标 | 第29-31页 |
| ·微测辐射热计的热平衡过程 | 第31-36页 |
| ·不施加偏置时的热平衡过程 | 第31-32页 |
| ·施加偏置时的热平衡过程 | 第32-36页 |
| ·热敏单元的数值仿真 | 第36-40页 |
| ·本章小节 | 第40-41页 |
| 3 红外焦平面阵列的非均匀性及校正技术 | 第41-59页 |
| ·非均匀性与噪声 | 第41-46页 |
| ·非均匀性定义及来源 | 第41-44页 |
| ·瞬态噪声定义及来源 | 第44-46页 |
| ·影响非均匀性的特性参数 | 第46-49页 |
| ·非均匀性校正技术 | 第49-56页 |
| ·本章小节 | 第56-59页 |
| 4 UMB 读出电路技术 | 第59-73页 |
| ·读出电路的体系结构 | 第59-60页 |
| ·微测辐射热计的信号转换电路 | 第60-70页 |
| ·基本信号转换电路 | 第61-62页 |
| ·CTIA 积分读出电路 | 第62-70页 |
| ·读出电路的发展方向 | 第70-71页 |
| ·本章小节 | 第71-73页 |
| 5 非均匀性校正方法及计算机仿真 | 第73-91页 |
| ·固定系数的两点校正方法 | 第73-77页 |
| ·校正原理 | 第73-75页 |
| ·两点校正方法的计算机仿真 | 第75-77页 |
| ·衬底温度对校正的影响 | 第77-78页 |
| ·新型校正方法的校正原理 | 第78-81页 |
| ·新型校正方法的计算机仿真 | 第81-90页 |
| ·校正系数产生算法 | 第81-84页 |
| ·计算机仿真结果 | 第84页 |
| ·计算机仿真结果 | 第84-88页 |
| ·仿真结果的进一步思考 | 第88-90页 |
| ·本章小节 | 第90-91页 |
| 6 微测辐射热计非均匀性校正读出电路 | 第91-103页 |
| ·微测辐射热计的PSPICE 模型 | 第91-93页 |
| ·读出架构与控制时序 | 第93-100页 |
| ·动态移位寄存器 | 第94-95页 |
| ·CTIA 运放 | 第95-97页 |
| ·相关双采样(CDS)技术 | 第97-98页 |
| ·PSPICE 仿真结果 | 第98-99页 |
| ·利用DAC 实现两点校正 | 第99-100页 |
| ·衬底温度控制电路 | 第100-101页 |
| ·本章小节 | 第101-103页 |
| 7 总结 | 第103-105页 |
| 致谢 | 第105-107页 |
| 参考文献 | 第107-113页 |
| 附录:作者在攻读博士学位期间发表论文情况 | 第113-115页 |
| 独创性声明 | 第115页 |
| 学位论文版权使用授权书 | 第115页 |
