辐射源高分辨阵列测向技术研究
| 第1章 绪论 | 第1-18页 |
| ·研究背景和意义 | 第10-11页 |
| ·相关技术的发展 | 第11-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-16页 |
| ·本文的主要工作和章节安排 | 第16-18页 |
| ·本文的创新之处以及主要工作 | 第16页 |
| ·本文章节安排 | 第16-18页 |
| 第2章 阵列测向模型与基本算法 | 第18-27页 |
| ·阵列测向系统模型 | 第18-20页 |
| ·阵列测向物理模型 | 第18-19页 |
| ·阵列测向数学模型 | 第19-20页 |
| ·基本假设 | 第20-21页 |
| ·高分辨阵列测向基本算法 | 第21-26页 |
| ·平面阵列方向矩阵的表示 | 第21-23页 |
| ·MUSIC算法描述 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 宽频段阵列无模糊测向技术 | 第27-41页 |
| ·引言 | 第27-28页 |
| ·宽频段上阵列一阶二维测向模糊分析 | 第28-31页 |
| ·平面任意阵二维测向模糊条件分析 | 第28-30页 |
| ·几种常用均匀圆阵的二维测向模糊分析 | 第30-31页 |
| ·平面5元十字交叉阵的二维测角模糊分析 | 第31-32页 |
| ·一种平面5元阵测向模糊分析及阵列改进措施 | 第32-39页 |
| ·一种平面5元阵测向模糊分析 | 第33页 |
| ·阵列的几种改进措施 | 第33-36页 |
| ·几种圆阵和修改阵列的测向仿真比较 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第4章 对相干辐射源的处理方法 | 第41-58页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·相干信源测向性能下降的原因 | 第41-43页 |
| ·空间信号源相干的定义 | 第41-42页 |
| ·信号相干时阵列测向方法失效原因分析 | 第42-43页 |
| ·均匀线阵的去相关处理技术 | 第43-46页 |
| ·空间平滑法 | 第43-44页 |
| ·前后向空间平滑技术 | 第44-46页 |
| ·任意平面阵的去相关处理技术 | 第46-51页 |
| ·求解内插矩阵 | 第46-48页 |
| ·阵列内插技术 | 第48-49页 |
| ·内插阵列是实际阵列的平移 | 第49-50页 |
| ·多扇区方向估计 | 第50-51页 |
| ·计算机模拟与性能分析 | 第51-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第5章 阵列测向系统模型误差的分析与校正 | 第58-72页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·模型误差分析 | 第59-62页 |
| ·模型误差影响大小的分析 | 第59-61页 |
| ·两种主要模型误差的表示 | 第61-62页 |
| ·通道不一致性校正方法 | 第62-64页 |
| ·通道不一致自校正方法 | 第62-63页 |
| ·通道不一致已知源校正法 | 第63-64页 |
| ·阵元互耦校正方法 | 第64-67页 |
| ·阵元互耦自校正方法 | 第64-65页 |
| ·阵元互耦已知源校正方法 | 第65-67页 |
| ·上述校正方法的仿真试验 | 第67-70页 |
| ·通道不一致性校正方法仿真 | 第67-70页 |
| ·阵元互耦校正方法仿真 | 第70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
