洋葱状富勒烯的提纯及XRD结构精修
| 第一章 绪论 | 第1-31页 |
| 1．1 碳纳米材料 | 第11-17页 |
| 1．1．1 C_60 | 第12-13页 |
| 1．1．2 碳纳米管 | 第13-15页 |
| 1．1．3 OLFs | 第15-17页 |
| 1．2 OLFs的制备 | 第17-22页 |
| 1．3 OLFs的应用前景 | 第22-23页 |
| 1．4 富勒烯的提纯 | 第23-27页 |
| 1．4．1 C_60的提纯 | 第23-24页 |
| 1．4．2 碳纳米管的提纯 | 第24-25页 |
| 1．4．3 OLFs的提纯分析 | 第25-27页 |
| 1．5 晶体结构的Rietveld 全谱拟合 | 第27-29页 |
| 1．5．1 Rietveld简介 | 第27-29页 |
| 1．5．2 C_60X射线谱的拟合 | 第29页 |
| 1．6 本文研究内容 | 第29-31页 |
| 第二章 实验方法 | 第31-35页 |
| 2．1 OLFs的制备 | 第31-33页 |
| 2．1．1 实验设备 | 第31-32页 |
| 2．1．2 实验原料 | 第32页 |
| 2．1．3 实验步骤 | 第32-33页 |
| 2．2 OLFs的提纯 | 第33-34页 |
| 2．2．1 实验仪器 | 第33-34页 |
| 2．2．2 实验原料 | 第34页 |
| 2．3 样品分析与表征 | 第34-35页 |
| 2．3．1 HRTEM分析 | 第34页 |
| 2．3．2 XRD分析 | 第34-35页 |
| 第三章 OLFs的制备 | 第35-44页 |
| 3．1 实验流程 | 第35页 |
| 3．2 实验参数 | 第35-36页 |
| 3．3 实验结果与分析讨论 | 第36-41页 |
| 3．3．1 温度的影响 | 第36-39页 |
| 3．3．2 坩埚状态的影响 | 第39-40页 |
| 3．3．3 真空度的影响 | 第40-41页 |
| 3．4 OLFs生成机理研究 | 第41-43页 |
| 3．5 小结 | 第43-44页 |
| 第四章 OLFs的提纯 | 第44-53页 |
| 4．1 实验步骤 | 第44-45页 |
| 4．1．1 CS_2分离处理 | 第44页 |
| 4．1．2 热处理温度的确定 | 第44页 |
| 4．1．3 热处理时间的确定 | 第44-45页 |
| 4．2 实验结果与分析讨论 | 第45-52页 |
| 4．2．1 HRTEM分析 | 第45-47页 |
| 4．2．2 各步产物的 XRD分析 | 第47-48页 |
| 4．2．3 热处理温度的影响 | 第48-51页 |
| 4．2．4 热处理时间的影响 | 第51-52页 |
| 4．3 小结 | 第52-53页 |
| 第五章 富勒烯的XRD分析 | 第53-66页 |
| 5．1 模拟软件简介 | 第53-55页 |
| 5．1．1 Materials Studio | 第53-54页 |
| 5．1．2 Reflex模块 | 第54-55页 |
| 5．2 C_60的XRD实验谱 | 第55-56页 |
| 5．3 Rietveld 基本原理和拟合步骤 | 第56-58页 |
| 5．4 Rietveld 精修结果的评价 | 第58页 |
| 5．5 富勒烯 XRD的拟合 | 第58-65页 |
| 5．5．1 C_60XRD的拟合 | 第59-64页 |
| 5．5．2 OLFs XRD的计算分析 | 第64-65页 |
| 5．6 小结 | 第65-66页 |
| 第六章 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第78-79页 |
