第一章 绪论 | 第1-19页 |
1.1 生物电阻抗断层成像(EIT) | 第11-14页 |
1.1.1 EIT简介 | 第11页 |
1.1.2 EIT的医学研究意义 | 第11-13页 |
1.1.3 头部 EIT技术的难点 | 第13-14页 |
1.2 基于磁共振成像系统的电阻抗断层成像技术(MREIT) | 第14页 |
1.3 本文主要研究工作及创新点 | 第14-16页 |
参考文献 | 第16-19页 |
第二章 基于磁共振成像系统的电阻抗成像技术(MREIT) | 第19-43页 |
2.1 磁共振成像的基本原理 | 第19-29页 |
2.1.1 微环境与宏观条件 | 第19-21页 |
2.1.2 横向弛豫与纵向弛豫 | 第21-24页 |
2.1.3 磁共振信号与图像 | 第24-29页 |
2.1.4 影响因素 | 第29页 |
2.2 电流密度成像(CDI) | 第29-32页 |
2.2.1 电流密度成像的成像要求与步骤 | 第30-31页 |
2.2.2 电流密度成像的成像原理 | 第31-32页 |
2.3 基于磁共振成像系统的电阻抗断层成像技术(MREIT) | 第32-40页 |
2.3.1 MREIT的发展 | 第32-34页 |
2.3.2 MREIT的正问题 | 第34-39页 |
2.3.3 MREIT的逆问题 | 第39-40页 |
2.3.4 MREIT的难点问题 | 第40页 |
参考文献 | 第40-43页 |
第三章 三维 MREIT重建算法 | 第43-63页 |
3.1 引言 | 第43-44页 |
3.2 三维 MREIT重建算法 | 第44-46页 |
3.2.1 三维 MREIT算法正问题 | 第44页 |
3.2.2 三维 MREIT算法逆问题 | 第44-46页 |
3.3 利用三维 MREIT算法检测头部真实电导率的分布 | 第46-51页 |
3.3.1 仿真实验设计 | 第47-49页 |
3.3.2 仿真实验结果 | 第49-50页 |
3.3.3 仿真实验结果分析 | 第50-51页 |
3.3.4 结论 | 第51页 |
3.4 利用三维 MREIT算法检测脑出血、脑缺血引起的大脑阻抗变化 | 第51-59页 |
3.4.1 仿真实验设计 | 第52-54页 |
3.4.2 仿真实验结果 | 第54-59页 |
3.4.3 结论 | 第59页 |
3.5 本章小节 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-63页 |
第四章 基于径向基函数的MREIT重建算法 | 第63-87页 |
4.1 引言 | 第63-64页 |
4.2 基于径向基函数的MREIT重建算法(RBF-MREIT) | 第64-73页 |
4.2.1 RBF-MREIT的成像过程 | 第64-66页 |
4.2.2 RBF-MREIT的正问题 | 第66-68页 |
4.2.3 RBF-MREIT的逆问题 | 第68-73页 |
4.3 利用 RBF-MREIT检测头部真实电导率的分布 | 第73-81页 |
4.3.1 仿真实验设计 | 第73-76页 |
4.3.2 仿真实验结果 | 第76-81页 |
4.4 本章小节 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-87页 |
第五章 基于表面响应模型的MREIT重建算法 | 第87-107页 |
5.1 引言 | 第87-88页 |
5.2 表面响应模型方法(RESPONSE SURFACE METHODOLOGY) | 第88-93页 |
5.2.1 RSM方法介绍 | 第88-91页 |
5.2.2 RSM的一般流程 | 第91-93页 |
5.3 基于表面响应模型的MREIT重建算法(RSM-MREIT) | 第93-97页 |
5.3.1 RSM-MRE工T的成像过程 | 第93-94页 |
5.3.2 RSM-MREIT的正问题 | 第94-95页 |
5.3.3 RSM-MREIT的逆问题 | 第95-97页 |
5.4 利用 RSM-MRE工T检测头部真实电导率的分布 | 第97-102页 |
5.4.1 仿真实验设计 | 第97页 |
5.4.2 仿真实验结果 | 第97-102页 |
5.5 本章小节 | 第102-103页 |
参考文献 | 第103-107页 |
第六章 结论与展望 | 第107-111页 |
6.1 论文总结 | 第107-108页 |
6.2 研究展望 | 第108-111页 |
攻读博士期间完成的论文 | 第111-113页 |
致谢 | 第113页 |