PT系铁电材料的制备与性能表征
第一章 绪论 | 第1-27页 |
·引言 | 第10页 |
·晶体的铁电性 | 第10-12页 |
·晶体的热释电性 | 第12-14页 |
·铁电薄膜的研究和应用 | 第14-19页 |
·铁电材料概述 | 第14-15页 |
·铁电薄膜的发展和现状 | 第15-16页 |
·铁电薄膜的应用 | 第16-19页 |
·铁电薄膜制备技术 | 第19-24页 |
·化学液相沉积法 | 第20-22页 |
·溅射法 | 第22-23页 |
·脉冲激光沉积法 | 第23页 |
·金属有机物化学气相沉积法 | 第23-24页 |
·铁电薄膜研究前沿 | 第24-26页 |
·本论文选题依据及主要内容 | 第26-27页 |
第二章 PZT 陶瓷的制备和性能研究 | 第27-48页 |
·引言 | 第27页 |
·相关理论与工艺技术 | 第27-34页 |
·钙钛矿结构 | 第27-28页 |
·PZT 固溶体 | 第28-29页 |
·制备粉体的方法—机械粉碎法 | 第29-31页 |
·粉体的塑化和造粒 | 第31-32页 |
·陶瓷粉体的塑化 | 第31页 |
·塑化机理 | 第31页 |
·造粒 | 第31-32页 |
·金属模压成型 | 第32页 |
·排塑 | 第32-33页 |
·排塑的作用和目的 | 第32页 |
·排塑过程中的物理化学变化 | 第32页 |
·影响排塑过程的因素 | 第32-33页 |
·预烧 | 第33页 |
·烧结 | 第33-34页 |
·复合掺杂PZT 陶瓷的制备与性能研究 | 第34-43页 |
·组分的确定 | 第34-36页 |
·Zr、Ti 组分的确定 | 第34页 |
·掺杂组分的确定 | 第34-36页 |
·组分的确定 | 第36页 |
·预烧及烧结温度的确定 | 第36-37页 |
·工艺流程 | 第37-38页 |
·实验中原料与分析仪器 | 第38-39页 |
·试验结果与分析 | 第39-43页 |
·X 射线衍射(XRD)分析 | 第39页 |
·Zr/Ti 比对样品铁电性能的影响 | 第39-41页 |
·Zr/Ti 比及烧结温度对样品介电性能的影响 | 第41-42页 |
·结论 | 第42-43页 |
·镧、锰掺杂对PZT 陶瓷性能的影响 | 第43-48页 |
·实验方案确定 | 第43页 |
·实验结果与分析 | 第43-48页 |
·掺镧对样品性能的影响 | 第43-45页 |
·掺锰对样品性能的影响 | 第45页 |
·样品的表面形貌的表征 | 第45-46页 |
·样品的频率特性表征 | 第46-47页 |
·结论 | 第47-48页 |
第三章 溶胶-凝胶法制备薄膜的理论基础与工艺技术 | 第48-55页 |
·引言 | 第48页 |
·溶胶-凝胶法介绍 | 第48-50页 |
·溶胶-凝胶法的技术优点 | 第50页 |
·影响前驱液质量的因素 | 第50-51页 |
·前驱体溶液的配制 | 第51-52页 |
·先体溶液原料选择原则 | 第51-52页 |
·先体溶液中有机试剂选择原则 | 第52页 |
·薄膜的制备 | 第52-55页 |
·基片与衬底材料的选择 | 第52-53页 |
·基片的选择与清洗 | 第53-54页 |
·薄膜的制备 | 第54-55页 |
第四章 PT 系铁电薄膜的制备和性能表征 | 第55-75页 |
·钛酸铅薄膜的制备和性能表征 | 第55-63页 |
·引言 | 第55-57页 |
·先体溶液原料及有机试剂的确定 | 第57-58页 |
·前驱体溶液的配制及薄膜制备 | 第58页 |
·钛酸铅薄膜的性能表征及分析 | 第58-63页 |
·薄膜的结晶状况分析 | 第58-59页 |
·薄膜厚度分析 | 第59-60页 |
·薄膜的介电铁电热释电性能分析 | 第60-63页 |
·PLT 薄膜的制备与性能表征 | 第63-71页 |
·引言 | 第63-64页 |
·前驱体液的配制及薄膜的制备 | 第64-65页 |
·薄膜的性能表征与分析 | 第65-71页 |
·薄膜的结晶状况分析 | 第65页 |
·薄膜的表面形貌分析 | 第65-66页 |
·薄膜的厚度分析 | 第66-67页 |
·薄膜的介电铁电性能分析 | 第67-71页 |
·PLCT 薄膜的制备与性能表征 | 第71-75页 |
·引言 | 第71页 |
·前驱体液的配制及薄膜的制备 | 第71-72页 |
·薄膜的性能表征与分析 | 第72-75页 |
第五章 结论 | 第75-77页 |
参考文献 | 第77-82页 |
致谢 | 第82页 |