超高频塑封高压硅堆的研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-11页 |
| ·电力电子器件简介 | 第7-9页 |
| ·本文工作的内容及意义 | 第9-10页 |
| ·本章小节 | 第10-11页 |
| 第2章 塑封高频高压硅堆的相关知识简介 | 第11-21页 |
| ·塑封高频高压硅堆简介 | 第11-12页 |
| ·pin二极管简介 | 第12-16页 |
| ·寿命控制技术 | 第16-20页 |
| ·本章小节 | 第20-21页 |
| 第3章 数值分析所用的方程、模型、解法 | 第21-35页 |
| ·基本方程描述 | 第21-23页 |
| ·模型的选取 | 第23-29页 |
| ·复合模型的选取 | 第23-24页 |
| ·载流子浓度分布的确定 | 第24-26页 |
| ·迁移率模型的选取 | 第26-28页 |
| ·雪崩碰撞电离模型 | 第28-29页 |
| ·边界条件 | 第29-31页 |
| ·数值求解方法 | 第31-33页 |
| ·离散化 | 第31页 |
| ·求解方法 | 第31-33页 |
| ·本章小节 | 第33-35页 |
| 第4章 器件结构、工艺的改进与仿真分析 | 第35-55页 |
| ·皋鑫现有成熟58型硅堆的结构与工艺过程 | 第35-37页 |
| ·铂在二极管中轴向位置的变化对各个参数性能的影响 | 第37-45页 |
| ·铂所在轴向位置的变化对二极管反向恢复时间的影响 | 第38-41页 |
| ·铂所在轴向位置的变化对二极管反向漏电流的影响 | 第41-43页 |
| ·铂所在轴向位置的变化对二极管正向压降的影响 | 第43-45页 |
| ·铂扩散工艺的改变对铂在硅中分布的影响 | 第45-47页 |
| ·二极管结构的变化对硅堆中二极管参数的影响 | 第47-52页 |
| ·高压硅堆叠片方式的变化对硅堆参数性能的影响 | 第52-54页 |
| ·本章小节 | 第54-55页 |
| 第5章 实验结果 | 第55-69页 |
| ·第一阶段试验情况介绍及测试结果分析 | 第55-59页 |
| ·第二阶段试验情况介绍及测试结果分析 | 第59-66页 |
| ·第三阶段试验情况介绍及测试结果分析 | 第66-69页 |
| 结论与建议 | 第69-75页 |
| 结论 | 第69-71页 |
| 工作回顾与建议 | 第71-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
