一种亚纳米级分辨力同轴式激光轮廓测量系统的研制
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-18页 |
·纳米技术概述 | 第8-9页 |
·纳米测量技术的现状及发展 | 第9-16页 |
·本课题的来源、目的和意义 | 第16-17页 |
·小结 | 第17-18页 |
2 轮廓测量系统的理论研究 | 第18-40页 |
·高斯光束 | 第18-25页 |
·同轴式激光轮廓测量技术的原理 | 第25-28页 |
·影响垂直分辨力的主要因数 | 第28-33页 |
·激光轮廓测量系统的横向分辨力 | 第33-35页 |
·参考光斑大小对表面轮廓测量的影响 | 第35-38页 |
·表面粗糙度参数的计算 | 第38-39页 |
·小结 | 第39-40页 |
3 亚纳米级分辨力同轴式激光轮廓测量系统的设计 | 第40-58页 |
·系统设计 | 第40-41页 |
·激光双纵模热稳频装置 | 第41-53页 |
·光路结构的设计 | 第53-55页 |
·电子系统 | 第55-57页 |
·小结 | 第57-58页 |
4 软件设计 | 第58-62页 |
·软件模块 | 第58页 |
·开发方案 | 第58-62页 |
5 精度分析 | 第62-65页 |
6 实验结果 | 第65-73页 |
·实物图 | 第65页 |
·轮廓测量系统的功能 | 第65-66页 |
·测量系统的分辨力 | 第66-68页 |
·对比测试 | 第68-70页 |
·不确定度测试 | 第70-73页 |
7 总结和展望 | 第73-74页 |
8 参考资料 | 第74-77页 |
9 硕士期间作者科研成果简介 | 第77页 |
10 论文成果声明 | 第77-78页 |
致谢 | 第78页 |