| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第1章 文献综述 | 第10-28页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·导电粉末的分类 | 第10-12页 |
| ·金属系导电粉末 | 第10-11页 |
| ·碳系导电粉末 | 第11页 |
| ·复合金属氧化物系导电粉末 | 第11-12页 |
| ·导电粉末国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·导电粉末的国外研究概况 | 第12-13页 |
| ·导电粉末的国内研究概况 | 第13-14页 |
| ·氧化锌 | 第14-27页 |
| ·氧化锌的结构及性质 | 第14-16页 |
| ·四针状氧化锌晶须(T-ZnO_w) | 第16-17页 |
| ·T-ZnO_w的制备方法 | 第17-18页 |
| ·T-ZnO_w的应用 | 第18-23页 |
| ·ZnO的掺杂 | 第23-27页 |
| ·T-ZnO_w抗静电材料存在的问题及解决方案 | 第27页 |
| ·本研究的目的与意义 | 第27-28页 |
| 第2章 实验原料及设备 | 第28-32页 |
| ·实验试剂及仪器 | 第28-29页 |
| ·测试方法 | 第29-32页 |
| ·X射线衍射分析 | 第29页 |
| ·SEM检测 | 第29-30页 |
| ·红外光谱分析 | 第30页 |
| ·导电性能测试 | 第30-32页 |
| 第3章 晶须掺杂理论计算 | 第32-37页 |
| ·ZnO的半导体机理 | 第32-33页 |
| ·最佳掺杂量的理论计算 | 第33-37页 |
| ·替位式杂质对半导体材料导电性的影响机制 | 第34页 |
| ·掺杂氧化锌最佳掺杂量理论计算 | 第34-37页 |
| 第4章 Al、Sb掺杂导电T-ZnO_w的制备与表征 | 第37-57页 |
| ·实验方法 | 第37-38页 |
| ·铝掺杂T-ZnO_w | 第38-52页 |
| ·结构分析 | 第38-42页 |
| ·工艺条件对晶须形貌的影响 | 第42-47页 |
| ·工艺参数对晶须电阻率的影响 | 第47-52页 |
| ·锑掺杂T-ZnO_w | 第52-56页 |
| ·结构及形貌分析 | 第52-55页 |
| ·导电性能分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 Zn、SnO_2包覆T-ZnO_w的制备与表征 | 第57-67页 |
| ·Zn包覆T-ZnO_w | 第57-63页 |
| ·实验方法 | 第57-58页 |
| ·结构分析 | 第58页 |
| ·形貌分析 | 第58-59页 |
| ·不同的锌粉包覆量对晶须电阻率的影响 | 第59-60页 |
| ·不同的铝初始加入量对晶须电阻率的影响 | 第60-61页 |
| ·退火温度对电阻率的影响 | 第61-62页 |
| ·退火时间对电阻率的影响 | 第62-63页 |
| ·SnO_2包覆T-ZnO_w | 第63-66页 |
| ·实验方法 | 第63页 |
| ·结构及形貌分析 | 第63-66页 |
| ·导电性能研究 | 第66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第6章 T-ZnO_w在环氧树脂抗静电漆中的应用探讨 | 第67-72页 |
| ·前言 | 第67-68页 |
| ·实验方法 | 第68页 |
| ·结果与讨论 | 第68-71页 |
| ·溶剂甲苯用量的确定 | 第68页 |
| ·晶须用量对环氧树脂性能的影响 | 第68-69页 |
| ·晶须在环氧树脂中的分散表征 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第7章 结论和建议 | 第72-73页 |
| ·结论 | 第72页 |
| ·建议 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 攻读硕士期间的主要成果 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |
