基于图像处理技术的锡膏印刷质量检测
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-9页 |
| ·本文研究主要内容和工作安排 | 第9-11页 |
| 2 AOI系统设计原理与PCB图像定位 | 第11-19页 |
| ·AOI系统工作原理介绍 | 第11-12页 |
| ·SMT生产流程和AOI系统的作用位置 | 第11-12页 |
| ·AOI系统工作基本原理 | 第12页 |
| ·光源的选择 | 第12页 |
| ·基于目标形状的光学定位点检测 | 第12-17页 |
| ·模板匹配方法 | 第13-14页 |
| ·金字塔模型 | 第14-15页 |
| ·基于目标形状的Mark点检测 | 第15-17页 |
| ·本章小结 | 第17-19页 |
| 3 基于图像分割技术的的锡膏区域识别 | 第19-37页 |
| ·阈值分割方法介绍 | 第19-23页 |
| ·直方图的构造 | 第20-21页 |
| ·基于直方图的阈值选取 | 第21-23页 |
| ·基于目标颜色分布统计特性的图像分割模型 | 第23-27页 |
| ·正态分布 | 第24-25页 |
| ·高斯模型 | 第25-27页 |
| ·基于区域生长算法的的图像分割模型 | 第27-35页 |
| ·纹理特征 | 第28-30页 |
| ·支持向量机(SVM)理论基础 | 第30-32页 |
| ·区域增长 | 第32页 |
| ·本文采用的方法 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 4 基于形态学的锡膏图像处理 | 第37-48页 |
| ·数学形态学 | 第37页 |
| ·二值数学形态学的相关概念 | 第37-39页 |
| ·集合论的相关知识 | 第37-39页 |
| ·结构元素 | 第39页 |
| ·二值形态学腐蚀和膨胀 | 第39-41页 |
| ·腐蚀 | 第39-40页 |
| ·膨胀 | 第40-41页 |
| ·二值形态学开运算与闭运算 | 第41-43页 |
| ·开运算 | 第41-42页 |
| ·闭运算 | 第42-43页 |
| ·形态学在本文中的应用 | 第43-47页 |
| ·二值形态学的应用 | 第43-45页 |
| ·背景噪声点的滤波 | 第45-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 锡膏的缺陷检查 | 第48-58页 |
| ·二值连通区域标记 | 第48-50页 |
| ·锡膏缺陷检查方案 | 第50-55页 |
| ·方案一 | 第50-52页 |
| ·方案二 | 第52-55页 |
| ·实验结果定性分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 6 总结与展望 | 第58-60页 |
| ·本文工作总结 | 第58-59页 |
| ·本文工作展望 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
