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电磁脉冲对天线系统的耦合效应研究

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
1 绪论第8-13页
   ·课题研究的背景及意义第8页
   ·国内外研究现状第8-11页
     ·电磁脉冲杀伤载荷的发展现状第8-9页
     ·毁伤机理及研究方法的发展现状第9-10页
     ·防护技术的研究现状第10-11页
   ·本文主要研究内容第11-13页
2 电磁脉冲杀伤载荷及目标的易损性分析第13-28页
   ·电磁脉冲的产生机理及描述方法第13-18页
     ·杀伤载荷方案设计第13-15页
     ·信号特性及表述形式第15-18页
   ·电磁脉冲弹对空中目标的杀伤能力分析第18-20页
     ·电磁脉冲弹杀伤区域大小第18-19页
     ·目标处的功率密度第19-20页
     ·耦合进目标的能量第20页
   ·目标的易损性分析及毁伤判据第20-27页
     ·对电子器件的作用效应的描述方法第20-22页
     ·电磁脉冲杀伤载荷对电子器件的作用效应分析第22-25页
     ·目标的毁伤判据第25-27页
   ·本章小结第27-28页
3 模型的建立及仿真算法第28-41页
   ·几何模型的创建第28-36页
     ·UHF波段天线的设计第28-30页
     ·L波段天线的设计第30-33页
     ·X波段天线的设计第33-36页
   ·毁伤数学模型的建立第36-38页
     ·电磁场基本定律第36-37页
     ·天线的发射功率第37-38页
     ·同轴线中的能量损耗第38页
   ·FDTD在电磁仿真中的应用第38-40页
     ·天线的加载第38-39页
     ·天线参数的提取第39页
     ·吸收边界条件第39-40页
   ·本章小结第40-41页
4 电磁脉冲对多种频段天线的毁伤效能研究第41-59页
   ·对UHF波段天线的毁伤效能研究第41-47页
     ·八木天线耦合模型的建立第41页
     ·脉宽对耦合电流和功率的影响第41-42页
     ·入射场强对耦合电流和功率的影响第42-44页
     ·脉宽对毁伤距离的影响第44-45页
     ·入射方向及天线增益对耦合功率的影响第45-47页
   ·对L波段天线的毁伤效能研究第47-52页
     ·四臂螺旋天线耦合模型的建立第47页
     ·脉宽对耦合电流和功率的影响第47-48页
     ·入射场强对耦合电流和功率的影响第48-49页
     ·脉宽对毁伤距离的影响第49-50页
     ·入射方向和天线增益对耦合功率的影响第50-52页
   ·对X波段天线的毁伤效能研究第52-58页
     ·喇叭天线耦合模型的建立第52-53页
     ·脉宽对耦合电流和功率的影响第53-54页
     ·场强对耦合电流和功率的影响第54-55页
     ·脉宽对毁伤距离的影响第55-56页
     ·入射方向和天线增益对耦合功率的影响第56-58页
   ·本章小结第58-59页
5 电磁脉冲对腔体的耦合效应及防护技术研究第59-73页
   ·电磁脉冲与带同轴线缆的腔体耦合效应第59-63页
     ·带同轴线耦合模型的创建第59页
     ·脉宽对线缆耦合功率密度的影响第59-60页
     ·入射角度对线缆耦合功率密度的影响第60-63页
   ·同轴线缆参数对耦合效应的影响第63-65页
     ·线缆中铜导线半径对耦合功率的影响第63页
     ·线缆长度对耦合功率密度的影响第63-65页
   ·腔体结构对屏蔽效能的影响第65-69页
     ·带孔缝耦合模型的创建第65页
     ·凸台位置对腔体中心场强的影响第65-67页
     ·凸台形状对腔体和孔缝中心场强的影响第67-68页
     ·凸台直径对腔体中心最大场强的影响第68页
     ·凸台厚度对腔体中心最大场强的影响第68-69页
   ·算法正确性的验证第69-71页
   ·基于仿真结果的防护措施第71-72页
     ·对天线耦合的防护措施第71页
     ·对腔体耦合的防护措施第71-72页
   ·本章小结第72-73页
6 总结与展望第73-75页
   ·工作总结第73页
   ·未来展望第73-75页
致谢第75-76页
参考文献第76-78页

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