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ZnO薄膜的制备及其掺杂研究

摘要第1-9页
ABSTRACT第9-13页
目录第13-15页
第1章 引言第15-19页
第2章 ZnO材料综述第19-54页
   ·ZnO的结构第19-22页
   ·ZnO的基本性质及其研究进展第22-31页
     ·ZnO的光电性质第22-25页
     ·ZnO的压电性质第25页
     ·ZnO的压敏性质第25-27页
     ·ZnO的稀磁性质第27-30页
     ·ZnO的气敏性质第30-31页
   ·ZnO薄膜制备方法第31-35页
     ·磁控溅射(Magnetron Sputtering)技术第31-32页
     ·金属有机物气相沉积(Metal-Organic Chemical Vapor Deposition)技术第32-33页
     ·脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition)技术第33-34页
     ·分子束外延(Molecular Beam Epitaxy)技术第34页
     ·溶胶凝胶法(Sol-Gel)第34-35页
     ·喷雾热分解(Spray Pyrolysis)技术第35页
   ·ZnO中的缺陷第35-43页
     ·ZnO薄膜中的点缺陷第36-37页
     ·ZnO中的线缺陷(TDs)第37-38页
     ·ZnO中的堆垛层错(Stacking Faults)第38-40页
     ·ZnO薄膜中的晶界(GBs)缺陷第40-41页
     ·ZnO中的缺陷对其导电性和光学性能的影响第41-43页
   ·ZnO薄膜掺杂研究概述第43-51页
     ·以Ⅴ族元素为受主源第44-46页
     ·以Ⅰ族元素为受主源第46页
     ·Ⅲ-Ⅴ族元素共掺杂第46-48页
     ·过渡族金属掺杂ZnO形成稀磁半导体第48-51页
   ·本章小结第51-54页
第3章 反应离化团簇束法制备ZnO薄膜第54-67页
   ·反应离化団簇束(RICB)法简介第55-60页
   ·本实验团簇束的发生装置第60-61页
   ·团簇束离化装置第61-63页
   ·衬底安装及加热系统第63页
   ·薄膜制备与表征第63-65页
   ·本章小结第65-67页
第4章 反应磁控溅射法制备ZnO薄膜第67-82页
   ·基本原理第67-69页
   ·各种溅射工艺第69-74页
   ·实验装置第74-76页
   ·薄膜制备第76页
   ·薄膜表征第76-80页
   ·本章小结第80-82页
第5章 脉冲激光沉积法制备ZnO薄膜第82-92页
   ·脉冲激光沉积(PLD)原理第82-84页
   ·脉冲激光沉积的物理过程第84-86页
   ·脉冲激光沉积薄膜的特点第86-88页
   ·薄膜的制备第88-89页
   ·薄膜的表征第89-91页
   ·本章小结第91-92页
第6章 ZnO薄膜的掺杂及表征第92-114页
   ·离子注入掺杂概述第92-93页
   ·Sb离子注入ZnO外延膜的结构和光学性质第93-99页
     ·实验第94页
     ·实验结果及讨论第94-99页
   ·Sb离子注入ZnMnO薄膜的结构和Raman光谱分析第99-104页
     ·实验第100页
     ·实验结果及讨论第100-104页
   ·Mn离子注入ZnO薄膜的结构和磁性研究第104-110页
     ·实验第104-105页
     ·实验结果及讨论第105-110页
   ·本章小结第110-114页
总结第114-116页
参考文献第116-126页
攻博期间发表的科研论文第126-127页
致谢第127页

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