| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第13-33页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 太阳活动的X射线波段观测 | 第14-15页 |
| 1.3 软X射线掠入射望远镜 | 第15-20页 |
| 1.3.1 软X射线的全反射 | 第15-17页 |
| 1.3.2 掠入射光学系统的基本结构 | 第17-20页 |
| 1.4 软X射线掠入射望远镜的发展现状 | 第20-25页 |
| 1.4.1 国外软X射线掠入射望远镜的发展现状 | 第20-24页 |
| 1.4.2 国内软X射线掠入射望远镜的发展现状 | 第24-25页 |
| 1.5 太阳软X射线掠入射望远镜光学性能检测方法的现状 | 第25-30页 |
| 1.5.1 表面粗糙度的检测方法现状 | 第25-28页 |
| 1.5.2 角分辨率的检测方法现状 | 第28-30页 |
| 1.6 研究内容及意义 | 第30-33页 |
| 第2章 X射线的表面散射理论 | 第33-43页 |
| 2.1 引言 | 第33-36页 |
| 2.2 双向反射分布函数 | 第36-37页 |
| 2.3 Harvey-Shack表面散射理论 | 第37-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第3章 Wolter-I型掠入射反射镜表面粗糙度的检测 | 第43-53页 |
| 3.1 反射镜面形的影响 | 第43-45页 |
| 3.2 表面粗糙度的测量方案设计 | 第45-50页 |
| 3.3 测量方案的仿真 | 第50-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 有效集光面积的测量 | 第53-71页 |
| 4.1 检测方案设计 | 第53-60页 |
| 4.1.1 光源的选取 | 第53-55页 |
| 4.1.2 探测器的选取 | 第55-57页 |
| 4.1.3 电子学系统 | 第57-59页 |
| 4.1.4 准直器的设计 | 第59-60页 |
| 4.2 色散系统的标定 | 第60-62页 |
| 4.3 反射率计的准确性检验 | 第62-65页 |
| 4.4 有效集光面积的测量 | 第65-69页 |
| 4.4.1 滤光片透过率的测量 | 第65-67页 |
| 4.4.2 掠入射反射镜的有效集光面积 | 第67-68页 |
| 4.4.3 望远镜的有效集光面积 | 第68-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第5章 角分辨率的检测 | 第71-95页 |
| 5.1 检测方案设计 | 第71-72页 |
| 5.2 图像复原方法 | 第72-76页 |
| 5.3 可见光波段的角分辨率 | 第76-79页 |
| 5.4 孔径衍射效应 | 第79-80页 |
| 5.5 表面散射效应 | 第80-90页 |
| 5.5.1 表面散射对像质的影响 | 第80页 |
| 5.5.2 表面粗糙度的测量 | 第80-84页 |
| 5.5.3 散射点扩散函数 | 第84-90页 |
| 5.6 工作波段的角分辨率 | 第90-92页 |
| 5.7 本章小结 | 第92-95页 |
| 第6章 总结与展望 | 第95-98页 |
| 6.1 总结 | 第95-96页 |
| 6.2 本文的创新点 | 第96页 |
| 6.3 展望 | 第96-98页 |
| 参考文献 | 第98-105页 |
| 附录 | 第105-114页 |
| 致谢 | 第114-115页 |
| 作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第115-116页 |
| 参加的研究项目及获奖情况 | 第116页 |