| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 太赫兹及其特性 | 第10-12页 |
| 1.2 太赫兹探测技术 | 第12-13页 |
| 1.3 热释电式太赫兹探测器 | 第13-15页 |
| 1.4 主要研究内容和工作安排 | 第15-17页 |
| 第二章 热释电系数测试硬件平台 | 第17-31页 |
| 2.1 热释电效应 | 第17-18页 |
| 2.2 热释电系数测试方法 | 第18-20页 |
| 2.3 热释电系数测试硬件平台 | 第20-29页 |
| 2.3.1 热释电钽酸锂敏感元 | 第21页 |
| 2.3.2 高低温湿热试验箱 | 第21页 |
| 2.3.3 SR570前置放大电路 | 第21-22页 |
| 2.3.4 单片机系统模块 | 第22-29页 |
| 2.3.4.1 单片机最小系统 | 第22-25页 |
| 2.3.4.2 A/D转换模块 | 第25-26页 |
| 2.3.4.3 DS18B20温度测量模块 | 第26-27页 |
| 2.3.4.4 液晶显示电路 | 第27-28页 |
| 2.3.4.5 单片机串.电路模块 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 热释电系数测试软件平台 | 第31-41页 |
| 3.1 软件开发语言 | 第31页 |
| 3.2 系统程序设计 | 第31-37页 |
| 3.2.1 单片机系统主程序 | 第31-32页 |
| 3.2.2 DS18B20温度测试模块 | 第32-33页 |
| 3.2.3 PCF89512 A/D转换模块 | 第33-35页 |
| 3.2.4 显示部分程序设计 | 第35-36页 |
| 3.2.5 RS232串.通信程序设计 | 第36-37页 |
| 3.3 PC机数据监控界面设计 | 第37页 |
| 3.4 测量数据分析与结果 | 第37-39页 |
| 3.5 系统误差分析 | 第39-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 热释电太赫兹探测器前置放大电路设计 | 第41-66页 |
| 4.1 热释电电流前置放大电路 | 第41-44页 |
| 4.1.1 电压模式 | 第42页 |
| 4.1.2 电流模式 | 第42-44页 |
| 4.1.3 电荷放大器模式 | 第44页 |
| 4.2 前置放大电路原理图设计 | 第44-51页 |
| 4.2.1 电压模式原理图 | 第44-48页 |
| 4.2.2 电流模式原理图 | 第48-51页 |
| 4.3 前置放大电路的调试 | 第51-63页 |
| 4.3.1 PCB电路板调试 | 第51-52页 |
| 4.3.2 电压模式调试与性能测试 | 第52-58页 |
| 4.3.2.1 标准源测试CA3140放大电路性能 | 第53页 |
| 4.3.2.2 热释电探测器测试CA3140放大电路性能 | 第53-58页 |
| 4.3.3 电流模式调试与性能测试 | 第58-63页 |
| 4.3.3.1 标准源测试AD549放大电路性能 | 第58-62页 |
| 4.3.3.2 热释电探测器测试AD549放大电路性能 | 第62-63页 |
| 4.4 热释电太赫兹单元器件性能测试 | 第63-65页 |
| 4.4.1 测试原理 | 第63-64页 |
| 4.4.2 测试方法 | 第64-65页 |
| 4.4.2.1 信号电压 | 第64页 |
| 4.4.2.2 噪声信号电压 | 第64-65页 |
| 4.4.3 测试结果 | 第65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 结论与展望 | 第66-68页 |
| 5.1 全文总结 | 第66页 |
| 5.2 发展与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第72-73页 |
