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三维尺寸自动标注及尺寸链提取关键技术研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
注释表第12-13页
缩略词第13-14页
第一章 绪论第14-22页
    1.1 引言第14页
    1.2 研究目的及意义第14-15页
    1.3 国内外研究现状第15-19页
        1.3.1 尺寸自动标注技术的研究现状第15-17页
        1.3.2 尺寸链自动生成技术的研究现状第17-19页
    1.4 论文的研究内容和结构安排第19-22页
        1.4.1 CAA 简介第19-20页
        1.4.2 研究内容和结构安排第20-22页
第二章 零件三维尺寸的自动标注算法研究第22-39页
    2.1 引言第22页
    2.2 基本理论第22-24页
        2.2.1 TTRS 理论第22-23页
        2.2.2 尺寸标注要求及方式第23-24页
    2.3 零件三维尺寸自动标注的基本思想第24-25页
    2.4 标注元素集的构造第25-29页
        2.4.1 标注元素的提取第25-26页
        2.4.2 标注元素集的构造第26-28页
        2.4.3 标注元素的冗余消除第28-29页
    2.5 尺寸集的构造第29-33页
        2.5.1 标注顺序的确定第29-30页
        2.5.2 标注尺寸冗余的消除第30-32页
        2.5.3 尺寸标注的实现第32-33页
    2.6 尺寸公差的标注第33-34页
    2.7 实例分析第34-38页
    2.8 本章小结第38-39页
第三章 面向尺寸链的尺寸公差-装配约束图生成算法第39-58页
    3.1 引言第39页
    3.2 CAA 中的公差模型理论第39-40页
    3.3 尺寸公差—装配约束图生成的基本思路第40页
    3.4 装配体模型解析及处理第40-44页
        3.4.1 基于 TTRS 理论的装配体模型分析第40-42页
        3.4.2 装配模型预处理第42-43页
        3.4.3 标记几何元素第43-44页
    3.5 尺寸公差-装配约束图生成关键技术第44-51页
        3.5.1 装配体中各零件公差信息的提取第44-47页
        3.5.2 装配体约束信息的提取第47-50页
        3.5.3 尺寸公差-装配约束图的构造第50-51页
    3.6 实例分析第51-57页
    3.7 本章小结第57-58页
第四章 尺寸链自动生成及公差仿真计算第58-75页
    4.1 引言第58页
    4.2 尺寸链基本知识第58-59页
        4.2.1 尺寸链基本概念第58-59页
        4.2.2 尺寸链的分类第59页
        4.2.3 尺寸链的特征第59页
        4.2.4 尺寸链的作用第59页
    4.3 尺寸链的生成第59-63页
        4.3.1 封闭环的指定第59-60页
        4.3.2 组成环的查找第60-62页
        4.3.3 尺寸链生成第62-63页
    4.4 设计函数第63-67页
        4.4.1 判别增减环第63-64页
        4.4.2 装配尺寸链方程第64-65页
        4.4.3 实例分析第65-67页
    4.5 尺寸链基本计算方法第67-70页
        4.5.1 极值法第67-68页
        4.5.2 概率法第68-69页
        4.5.3 计算及结果对比第69-70页
    4.6 Vis/VSA 软件仿真分析第70-74页
        4.6.1 曲柄滑块机构的建模第71-73页
        4.6.2 Vis/VSA 仿真分析第73页
        4.6.3 对比分析第73-74页
    4.7 本章小结第74-75页
第五章 总结与展望第75-77页
    5.1 全文总结第75-76页
    5.2 工作展望第76-77页
参考文献第77-81页
致谢第81-82页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第82页

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