摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
目录 | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第9-19页 |
1.1 课题来源及背景 | 第9-11页 |
1.1.1 课题来源 | 第9页 |
1.1.2 IGBT 的发展 | 第9-11页 |
1.1.3 半导体器件的热阻 | 第11页 |
1.2 课题的国内外研究现状 | 第11-14页 |
1.2.1 IGBT 热特性的研究现状 | 第11-12页 |
1.2.2 热特性测试系统的发展现状 | 第12-14页 |
1.3 课题的研究意义 | 第14-16页 |
1.4 课题的主要工作 | 第16-17页 |
1.5 本章小结 | 第17-19页 |
第2章 IGBT 的原理及其热阻测试的原理 | 第19-27页 |
2.1 IGBT 的原理 | 第19-22页 |
2.1.1 IGBT 的基本结构 | 第19-20页 |
2.1.2 IGBT 的工作原理 | 第20-22页 |
2.2 IGBT 的温度特性 | 第22-23页 |
2.3 IGBT 热阻的测量方法 | 第23-25页 |
2.3.1 测量原理 | 第23-24页 |
2.3.2 敏感参数的选取 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-27页 |
第3章 IGBT 热特性测试系统的硬件设计 | 第27-45页 |
3.1 系统的硬件架构 | 第27-28页 |
3.2 逻辑控制电路 | 第28-31页 |
3.2.1 系统逻辑控制架构 | 第28-29页 |
3.2.2 核心控制板介绍 | 第29-31页 |
3.3 高速数据采集模块 | 第31-35页 |
3.4 电流源电路 | 第35-37页 |
3.5 温度监测与控制 | 第37-39页 |
3.5.1 温度监测 | 第37-39页 |
3.5.2 温度控制 | 第39页 |
3.6 网络通信模块 | 第39-41页 |
3.7 电源设计 | 第41-43页 |
3.8 本章小结 | 第43-45页 |
第4章 系统软件设计 | 第45-59页 |
4.1 下位机软件设计 | 第45-55页 |
4.1.1 Nios II 处理器系统简介 | 第45-48页 |
4.1.2 数据采集模块缓存 FIFO 的控制 | 第48-49页 |
4.1.3 DMA 数据传输控制 | 第49-51页 |
4.1.4 通信模块的实现 | 第51-54页 |
4.1.5 受控电流源驱动程序设计 | 第54-55页 |
4.2 IGBT 热阻测试仪显示控制界面设计 | 第55-57页 |
4.2.1 基于 Visual Basic 的界面设计 | 第55-57页 |
4.2.2 上位机软件设计 | 第57页 |
4.3 上下位机应用程序的接口协议设计 | 第57-58页 |
4.4 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 系统测试结果及成果展示 | 第59-67页 |
5.1 系统测试 | 第59-61页 |
5.2 测试系统测量影响因素的分析及改进方法 | 第61-63页 |
5.2.1 影响热阻测试的关键影响因素 | 第61-63页 |
5.2.2 热阻测试系统的改进方法及建议 | 第63页 |
5.3 系统成果展示 | 第63-65页 |
5.4 本章小结 | 第65-67页 |
结论 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文情况 | 第73-75页 |
致谢 | 第75页 |