| 摘要 | 第11-13页 |
| ABSTRACT | 第13-15页 |
| 第一章 绪论 | 第16-44页 |
| 1.1 研究背景 | 第16-23页 |
| 1.1.1 瞬时故障的定义 | 第16-18页 |
| 1.1.2 引发瞬时故障的原因 | 第18-20页 |
| 1.1.3 瞬时故障的危害和发展趋势 | 第20-22页 |
| 1.1.4 处理器可靠性设计的需求 | 第22-23页 |
| 1.2 面向瞬时故障的容错技术概述 | 第23-26页 |
| 1.2.1 瞬时故障的处理方法 | 第23-24页 |
| 1.2.2 容错技术的原理 | 第24-26页 |
| 1.3 相关研究现状 | 第26-39页 |
| 1.3.1 瞬时故障的影响评估 | 第26-28页 |
| 1.3.2 硬件容错技术 | 第28-32页 |
| 1.3.3 软件容错技术 | 第32-37页 |
| 1.3.4 混合软硬件容错技术 | 第37-39页 |
| 1.3.5 研究现状总结 | 第39页 |
| 1.4 研究内容和成果 | 第39-41页 |
| 1.5 论文结构 | 第41-44页 |
| 第二章 可配置的数据流检测技术 | 第44-64页 |
| 2.1 引言 | 第44-45页 |
| 2.2 相关工作 | 第45-46页 |
| 2.3 背景技术 | 第46-49页 |
| 2.3.1 基准流水线配置 | 第46-47页 |
| 2.3.2 基于改造超标量处理器实现的容错技术 | 第47-49页 |
| 2.4 Epipe平台技术 | 第49-51页 |
| 2.5 指令重要性分析 | 第51-54页 |
| 2.6 系统可靠性度量标准 | 第54-57页 |
| 2.7 实验评估 | 第57-62页 |
| 2.7.1 实验方法 | 第57-58页 |
| 2.7.2 选择最优的AIB大小 | 第58-59页 |
| 2.7.3 Epipe平台评估 | 第59-60页 |
| 2.7.4 Epipe技术可配置性评估 | 第60-62页 |
| 2.8 本章小结 | 第62-64页 |
| 第三章 可配置的控制流检测技术 | 第64-98页 |
| 3.1 引言 | 第64-65页 |
| 3.2 相关工作 | 第65-66页 |
| 3.3 CFCES的基本检测算法 | 第66-77页 |
| 3.3.1 相关定义 | 第66-68页 |
| 3.3.2 标签分配 | 第68-72页 |
| 3.3.3 基本块间和过程间控制流错误检测 | 第72-73页 |
| 3.3.4 基本块内的控制流错误检测 | 第73-74页 |
| 3.3.5 检测机制的自容错保护 | 第74-76页 |
| 3.3.6 检查点优化放置 | 第76-77页 |
| 3.4 CFCES检测能力证明 | 第77-82页 |
| 3.5 CFCES的可配置优化方法 | 第82-89页 |
| 3.5.1 基于函数重要性评估的分类保护 | 第83-84页 |
| 3.5.2 重构控制流图优化方法的原理 | 第84-86页 |
| 3.5.3 划分逻辑块 | 第86-87页 |
| 3.5.4 复制基本块 | 第87-89页 |
| 3.5.5 分割逻辑块 | 第89页 |
| 3.6 CFCES的基本检测算法评估 | 第89-94页 |
| 3.6.1 实验方法 | 第90-91页 |
| 3.6.2 性能开销评估 | 第91页 |
| 3.6.3 检测效能评估 | 第91-93页 |
| 3.6.4 CFCES的自容错能力评估 | 第93-94页 |
| 3.7 CFCES的可配置优化方法评估 | 第94-97页 |
| 3.7.1 时空开销优化效果评估 | 第94-96页 |
| 3.7.2 检测效能评估 | 第96-97页 |
| 3.8 本章小结 | 第97-98页 |
| 第四章 基于部分保护的片上SPM存储容错技术 | 第98-118页 |
| 4.1 引言 | 第98-99页 |
| 4.2 相关工作 | 第99-100页 |
| 4.3 基于部分保护的SPM容错技术 | 第100-113页 |
| 4.3.1 PPS存储体系结构 | 第101页 |
| 4.3.2 待分配数据选择 | 第101-104页 |
| 4.3.3 SPM空间划分 | 第104-106页 |
| 4.3.4 构建冲突图 | 第106-107页 |
| 4.3.5 提高性能的图着色分配过程 | 第107-111页 |
| 4.3.6 变量脆弱性评估 | 第111-112页 |
| 4.3.7 提高可靠性的再分配过程 | 第112-113页 |
| 4.4 实验评估 | 第113-117页 |
| 4.4.1 性能评估 | 第114-115页 |
| 4.4.2 可靠性评估 | 第115-117页 |
| 4.5 本章小结 | 第117-118页 |
| 第五章 基于程序分析的故障注入技术 | 第118-136页 |
| 5.1 引言 | 第118-119页 |
| 5.2 相关工作 | 第119-120页 |
| 5.3 Smart Injector故障注入框架 | 第120-129页 |
| 5.3.1 Smart Injector的总体结构 | 第120-121页 |
| 5.3.2 控制流等价故障删除 | 第121-123页 |
| 5.3.3 数据流等价故障删除 | 第123-125页 |
| 5.3.4 结果确定型故障删除 | 第125-127页 |
| 5.3.5 故障结果预测 | 第127-129页 |
| 5.4 Smart Injector的实现及评估 | 第129-131页 |
| 5.5 实验结果 | 第131-134页 |
| 5.5.1 Smart Injector的整体效果 | 第131页 |
| 5.5.2 Smart Injector的单个组成技术的效果 | 第131-133页 |
| 5.5.3 Smart Injector的精度分析 | 第133-134页 |
| 5.6 本章小结 | 第134-136页 |
| 第六章 结束语 | 第136-140页 |
| 6.1 本文主要贡献 | 第136-137页 |
| 6.2 研究展望 | 第137-140页 |
| 致谢 | 第140-142页 |
| 参考文献 | 第142-154页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第154-155页 |
