| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 选题背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 静电场计算方法研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 绝缘子串电位分布研究现状 | 第13-14页 |
| 1.2.3 雷电流函数 | 第14-15页 |
| 1.2.4 输电线路雷击暂态特性研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.5 雷电流波形测量方法 | 第16-17页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第17-19页 |
| 第2章 ±500kV直流耐张塔绝缘子串电位分布及均压环优化 | 第19-29页 |
| 2.1 有限元法概述 | 第19-20页 |
| 2.2 ±500k V直流耐张塔防雷改造下绝缘子串电位分布 | 第20-24页 |
| 2.2.1 防雷改造方案与三维计算模型 | 第20-22页 |
| 2.2.2 避雷器对绝缘子串电位分布的影响 | 第22-23页 |
| 2.2.3 均压环对绝缘子串电位分布的影响 | 第23-24页 |
| 2.3 均压环优化 | 第24-27页 |
| 2.3.1 均压环环径的优化 | 第24-25页 |
| 2.3.2 均压环管径的优化 | 第25-26页 |
| 2.3.3 均压环位置的优化 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 ±500kV直流线路雷击时绝缘子串暂态电位分布 | 第29-39页 |
| 3.1 概述 | 第29页 |
| 3.2 仿真模型的建立 | 第29-35页 |
| 3.2.1 雷电流模型 | 第29-30页 |
| 3.2.2 杆塔模型 | 第30-32页 |
| 3.2.3 绝缘子模型 | 第32页 |
| 3.2.4 避雷器模型 | 第32-33页 |
| 3.2.5 架空线路模型 | 第33-34页 |
| 3.2.6 绝缘子串暂态电位计算模型 | 第34-35页 |
| 3.3 仿真与结果分析 | 第35-38页 |
| 3.3.1 雷击输电线路不同位置时的绝缘子电位分布 | 第35-37页 |
| 3.3.2 接地电阻对绝缘子电位分布的影响 | 第37-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 雷电流检测系统 | 第39-55页 |
| 4.1 传感器选择 | 第39-43页 |
| 4.2 雷电流检测系统硬件电路设计 | 第43-49页 |
| 4.2.1 电源设计 | 第44-45页 |
| 4.2.2 电信号调理电路设计 | 第45-47页 |
| 4.2.3 AD模块设计 | 第47页 |
| 4.2.4 数据存储电路设计 | 第47-48页 |
| 4.2.5 通讯模块设计 | 第48-49页 |
| 4.3 雷电流检测系统软件设计 | 第49-53页 |
| 4.3.1 开发软件概述 | 第49-50页 |
| 4.3.2 Nios II处理器设计 | 第50-52页 |
| 4.3.3 Nios II处理器外围模块设计 | 第52-53页 |
| 4.4 系统调试 | 第53-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 基于有限元法的雷电流检测系统外壳屏蔽效能分析 | 第55-64页 |
| 5.1 涡流场计算概论及模型的建立 | 第55-59页 |
| 5.1.1 涡流场计算概论 | 第55-58页 |
| 5.1.2 屏蔽效能仿真计算模型 | 第58-59页 |
| 5.2 屏蔽体参数对屏蔽效能的影响 | 第59-60页 |
| 5.2.1 不同材料的外壳屏蔽效能分析 | 第59页 |
| 5.2.2 不同厚度的外壳屏蔽效能分析 | 第59-60页 |
| 5.3 开孔对外壳屏蔽效能的影响 | 第60-62页 |
| 5.3.1 孔径大小对屏蔽效能的影响 | 第60-61页 |
| 5.3.2 开孔位置对屏蔽效能的影响 | 第61-62页 |
| 5.4 提高屏蔽效能的措施 | 第62-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录A 攻读学位期间取得的研究成果 | 第72-73页 |
| 附录B FPGA周围电路总图 | 第73-74页 |
| 附录C Nios II系统总图 | 第74页 |
