核电子学实验平台研制
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 引言 | 第13-21页 |
1.1 核电子学的形成与发展 | 第13-16页 |
1.2 开设核电子学实验的意义 | 第16-18页 |
1.3 核电子学教学实验现状 | 第18-19页 |
1.4 本论文研究内容 | 第19-21页 |
第二章 实验安排和内容介绍 | 第21-35页 |
2.1 核电子学实验安排 | 第21-22页 |
2.2 主要实验介绍 | 第22-33页 |
2.2.1 传输线 | 第22-24页 |
2.2.2 快放大器性能测试 | 第24-25页 |
2.2.3 模数变换器(ADC)的特性测试 | 第25-26页 |
2.2.4 多道分析仪的使用和非线性测量 | 第26-27页 |
2.2.5 数字成形与模拟成形性能测试对比 | 第27-29页 |
2.2.6 时间定时性能测试 | 第29-31页 |
2.2.7 时间数字变换器(TDC)性能测试 | 第31-33页 |
2.3 本章小结 | 第33-35页 |
第三章 实验平台系统设计 | 第35-55页 |
3.1 基于FPGA的可重构技术路线 | 第35-36页 |
3.2 实验平台框架 | 第36-38页 |
3.3 硬件电路设计 | 第38-45页 |
3.3.1 信号输入电路 | 第38-42页 |
3.3.2 数字化 | 第42页 |
3.3.3 逻辑运算电路 | 第42-44页 |
3.3.4 输出控制电路 | 第44-45页 |
3.4 功能算法设计 | 第45-49页 |
3.4.1 功能算法介绍 | 第45-46页 |
3.4.2 数字成形算法 | 第46-49页 |
3.5 实验平台交互设计 | 第49-54页 |
3.5.1 软件设计需求与虚拟仪器 | 第49-51页 |
3.5.2 实验与软件交互设计 | 第51-54页 |
3.6 本章小结 | 第54-55页 |
第四章 教学应用 | 第55-65页 |
4.1 快放大器性能测试实验 | 第55-58页 |
4.2 多道分析仪使用和非线性测量实验 | 第58-62页 |
4.3 时间数字变换器(TDC)性能测试实验 | 第62-64页 |
4.4 本章小结 | 第64-65页 |
第五章 总结展望 | 第65-67页 |
5.1 工作总结 | 第65-66页 |
5.2 未来工作展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |
致谢 | 第69页 |