| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 红外探测器概述 | 第10-15页 |
| 1.3 红外焦平面阵列测试技术现状 | 第15-18页 |
| 1.4 论文研究意义与内容安排 | 第18-21页 |
| 1.4.1 论文研究意义 | 第18-19页 |
| 1.4.2 论文内容安排 | 第19-21页 |
| 第二章 红外焦平面阵列测试基本理论 | 第21-31页 |
| 2.1 像元级参数与系统性能关系 | 第21-22页 |
| 2.2 像元级热学参数 | 第22-24页 |
| 2.2.1 电阻温度系数(TCR) | 第22-23页 |
| 2.2.2 热导参数 | 第23页 |
| 2.2.3 热时间常数 | 第23-24页 |
| 2.2.4 热容参数 | 第24页 |
| 2.3 像元级噪声参数 | 第24-27页 |
| 2.4 相关系统级参数介绍 | 第27-29页 |
| 2.4.1 响应率参数 | 第27-28页 |
| 2.4.2 系统级噪声参数 | 第28-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-31页 |
| 第三章 红外焦平面阵列像元级热学参数测试 | 第31-45页 |
| 3.1 电阻温度系数TCR参数测试 | 第31-34页 |
| 3.1.1 TCR参数测试原理 | 第31-32页 |
| 3.1.2 样品测试与分析 | 第32-34页 |
| 3.2 像元热导参数测试 | 第34-38页 |
| 3.2.1 热导计算与软件仿真 | 第34-36页 |
| 3.2.2 热导参数电学功率测试法 | 第36-37页 |
| 3.2.3 样品测试与分析 | 第37-38页 |
| 3.3 像元热时间常数测试 | 第38-41页 |
| 3.3.1 惠斯通电桥测试法 | 第39页 |
| 3.3.2 样品测试与分析 | 第39-41页 |
| 3.4 像元热容参数测试 | 第41-42页 |
| 3.5 响应率参数推导 | 第42-43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 红外焦平面阵列像元级噪声参数测试 | 第45-53页 |
| 4.1 实验样品噪声参数理论计算 | 第45-46页 |
| 4.2 噪声参数测试方法实现 | 第46-49页 |
| 4.3 样品测试与分析 | 第49-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 红外焦平面阵列像元级参数测试方法可行性验证 | 第53-63页 |
| 5.1 可行性验证原理介绍 | 第53-54页 |
| 5.2 系统级参数测试方法实现 | 第54-56页 |
| 5.3 样品测试与数据分析 | 第56-60页 |
| 5.4 可行性分析 | 第60-61页 |
| 5.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 结论与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第63-64页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第71页 |