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CFETR氦冷陶瓷增殖包层中子学计算分析

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第1章 绪论第10-17页
    1.1 核聚变研究背景第10-11页
    1.2 聚变堆发展历程第11-12页
    1.3 聚变堆包层研究及中子学分析第12-15页
        1.3.1 国内外包层介绍第12-14页
        1.3.2 包层中子学研究现状第14-15页
    1.4 论文研究内容和意义第15-17页
第2章 中子学理论和计算方法第17-27页
    2.1 中子输运理论第17-18页
    2.2 蒙特卡罗方法第18-19页
    2.3 蒙特卡罗中子输运程序第19-23页
        2.3.1 程序简介第19-20页
        2.3.2 输入文件第20-21页
        2.3.3 核数据库第21-22页
        2.3.4 常用功能卡第22-23页
    2.4 中子活化理论第23-24页
    2.5 中子活化计算程序第24-26页
    2.6 本章小结第26-27页
第3章 CFETR氦冷陶瓷增殖包层模型第27-34页
    3.1 CFETR总体介绍第27-28页
        3.1.1 CFETR设计目标第27页
        3.1.2 CFETR三维模型第27-28页
    3.2 包层系统整体布置第28-29页
    3.3 氦冷陶瓷增殖包层方案介绍第29-32页
        3.3.1 包层材料选取第29-30页
        3.3.2 包层设计思路第30-32页
    3.4 氦冷陶瓷增殖包层中子学模型第32-33页
    3.5 本章小结第33-34页
第4章 CFETR氦冷陶瓷增殖包层中子输运分析第34-48页
    4.1 中子源分布的数值模拟第34-37页
        4.1.1 中子源分布描述第34-36页
        4.1.2 中子源分布模拟第36-37页
    4.2 氚增殖比第37-39页
    4.3 中子壁负载第39-41页
    4.4 中子通量密度第41-42页
    4.5 核热分布第42-44页
    4.6 氦气产生率第44-45页
    4.7 原子离位损伤第45-46页
    4.8 本章小结第46-48页
第5章 CFETR氦冷陶瓷增殖包层中子活化分析第48-58页
    5.1 放射性活度第48-50页
    5.2 衰变余热第50-52页
    5.3 停堆剂量率第52-57页
        5.3.1 传统计算方法第52-53页
        5.3.2 基于网格计数的严格两步法第53-55页
        5.3.3 结果分析第55-57页
    5.4 本章小结第57-58页
总结与展望第58-60页
参考文献第60-63页
致谢第63-64页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第64页

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