表层穿透雷达精细成像技术研究
| 摘要 | 第9-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-22页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-20页 |
| 1.2.1 表层穿透雷达系统研发现状 | 第15-17页 |
| 1.2.2 表层穿透雷达自聚焦技术研究现状 | 第17-18页 |
| 1.2.3 提高成像分辨率技术研究现状 | 第18-20页 |
| 1.3 主要内容和结构安排 | 第20-22页 |
| 第二章 表层穿透雷达成像机理 | 第22-34页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 介质中的散射场 | 第22-24页 |
| 2.3 成像算法 | 第24-33页 |
| 2.3.1 场景模型 | 第24-28页 |
| 2.3.2 成像分辨率与空间采样准则 | 第28-30页 |
| 2.3.3 实验系统与测试结果 | 第30-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 表层穿透雷达快速自聚焦方法 | 第34-50页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 基于幅度和最小化的自聚焦方法 | 第35-40页 |
| 3.2.1 幅度和聚焦度量 | 第36-38页 |
| 3.2.2 实测实验验证 | 第38-40页 |
| 3.3 反卷积快速自聚焦方法 | 第40-49页 |
| 3.3.1 卷积降质模型 | 第40-41页 |
| 3.3.2 盲反卷积自聚焦方法 | 第41-43页 |
| 3.3.3 算法分析 | 第43-45页 |
| 3.3.4 仿真和实验验证 | 第45-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 表层穿透雷达高分辨成像方法 | 第50-64页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 基于自回归模型谱外推方法 | 第50-54页 |
| 4.2.1 模型的建立与数据外推 | 第50-52页 |
| 4.2.2 仿真实验结果与分析 | 第52-54页 |
| 4.3 频谱均衡高分辨成像方法 | 第54-63页 |
| 4.3.1 校正方向图均衡频谱的原理 | 第54-56页 |
| 4.3.2 反卷积频谱均衡 | 第56-60页 |
| 4.3.3 实测实验验证 | 第60-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 结束语 | 第64-67页 |
| 5.1 本文的工作和创新点 | 第64-65页 |
| 5.2 进一步研究展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 作者在攻读硕士期间取得的学术成果 | 第73页 |
