| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第9-10页 |
| 缩略语对照表 | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-17页 |
| 1.1 信道编码理论概述 | 第13页 |
| 1.2 信道编码的发展应用 | 第13-14页 |
| 1.3 信道编码盲识别研究意义及现状 | 第14-15页 |
| 1.3.1 研究意义 | 第14页 |
| 1.3.2 研究现状 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 卷积码及卷积码盲识别算法 | 第17-33页 |
| 2.1 线性分组码与卷积码 | 第17-24页 |
| 2.1.1 线性分组码理论 | 第17-18页 |
| 2.1.2 卷积码理论 | 第18-19页 |
| 2.1.3 卷积码编码描述 | 第19-23页 |
| 2.1.4 删余卷积码 | 第23-24页 |
| 2.2 卷积码盲识别算法 | 第24-30页 |
| 2.2.1 高斯直接法 | 第24-25页 |
| 2.2.2 欧几里得算法 | 第25-27页 |
| 2.2.3 快速双合冲识别算法 | 第27-29页 |
| 2.2.4 Walsh-Hadamard分析法 | 第29-30页 |
| 2.3 本章小结 | 第30-33页 |
| 第三章 基于Walsh-Hadamard分析法改进的卷积码盲识别算法 | 第33-43页 |
| 3.1 码长、信息位长度、寄存器长度的盲识别 | 第33-35页 |
| 3.1.1 理论概述 | 第33页 |
| 3.1.2 识别步骤 | 第33-35页 |
| 3.2 校验矩阵与生成矩阵的盲识别 | 第35-42页 |
| 3.2.1 校验矩阵识别模型 | 第35-36页 |
| 3.2.2 校验矩阵的识别步骤 | 第36-37页 |
| 3.2.3 置信度K值的确定 | 第37页 |
| 3.2.4 快速Walsh-Hadamard变换 | 第37-41页 |
| 3.2.5 生成矩阵的识别模型 | 第41-42页 |
| 3.2.6 生成矩阵的识别步骤 | 第42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 基于Walsh-Hadamard分析法改进算法的仿真分析 | 第43-51页 |
| 4.1 改进算法盲识别的总流程 | 第43-44页 |
| 4.2 码长、信息位长度、寄存器长度盲识别仿真 | 第44-46页 |
| 4.3 快速Walsh-Hadamard变换法仿真 | 第46-47页 |
| 4.4 快速Walsh-Hadamard变换算法速率仿真 | 第47-48页 |
| 4.4.1 快速Walsh-Hadamard变换时间复杂度分析 | 第47页 |
| 4.4.2 快速W-H变换与传统W-H变换速率对比 | 第47-48页 |
| 4.5 卷积码盲识别改进算法仿真 | 第48-49页 |
| 4.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第五章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 作者简介 | 第59页 |
| 1. 基本情况 | 第59页 |
| 2. 教育背景 | 第59页 |
| 3. 在学期间的研究成果 | 第59页 |
