| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.3 小结 | 第15页 |
| 1.3 本文的主要研究内容和结构 | 第15-17页 |
| 第2章 基于磁梯度张量的目标定位原理 | 第17-34页 |
| 2.1 地磁要素 | 第17-19页 |
| 2.2 磁偶极子 | 第19-21页 |
| 2.3 磁梯度张量 | 第21-23页 |
| 2.4 磁梯度张量测量系统 | 第23-25页 |
| 2.5 磁梯度张量解析信号法的定位原理 | 第25-31页 |
| 2.5.1 解析信号法的水平定位原理 | 第25-26页 |
| 2.5.2 解析信号法的深度定位原理 | 第26-27页 |
| 2.5.3 磁倾角和磁偏角对解析信号法定位结果的影响 | 第27-28页 |
| 2.5.4 噪声对解析信号法定位结果的影响 | 第28-31页 |
| 2.6 单点磁梯度张量的目标定位原理 | 第31-33页 |
| 2.6.1 单点定位原理 | 第31-32页 |
| 2.6.2 噪声对单点磁梯度张量定位结果的影响 | 第32-33页 |
| 2.7 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 Savitzky-Golay平滑滤波在磁梯度张量定位中的应用 | 第34-52页 |
| 3.1 Savitzky-Golay平滑滤波的原理 | 第34-38页 |
| 3.2 样本标准差的计算 | 第38-39页 |
| 3.3 影响解析信号定位法定位结果的因素 | 第39-47页 |
| 3.3.1 不同深度下对解析信号定位法的影响 | 第39-42页 |
| 3.3.2 噪声对解析信号定位法的影响 | 第42-43页 |
| 3.3.3 Savitzky-Golay平滑滤波参数的选取 | 第43-47页 |
| 3.4 影响单点定位法的相关因素分析 | 第47-51页 |
| 3.4.1 噪声对单点定位法的影响 | 第47-48页 |
| 3.4.2 单点定位法中Savitzky-Golay平滑滤波参数的选取 | 第48-49页 |
| 3.4.3 测点不同水平位置对单点定位结果的影响 | 第49-51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 基于磁梯度张量的联合反演方法 | 第52-56页 |
| 4.1 联合反演的定位原理 | 第52页 |
| 4.2 联合反演与解析信号反演的定位性能分析 | 第52-55页 |
| 4.2.1 不同噪声下联合反演与解析信号反演的性能比较 | 第52-54页 |
| 4.2.2 不同目标深度下联合反演与解析信号反演的性能比较 | 第54-55页 |
| 4.3 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
