| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第一章 引言 | 第10-20页 |
| 1.1 纳米科学技术 | 第10-12页 |
| 1.2 低维纳米材料的制备与表征 | 第12-14页 |
| 1.3 薄膜材料与薄膜技术 | 第14-18页 |
| 1.3.1 薄膜材料的制备 | 第14-15页 |
| 1.3.2 薄膜材料的性质和分类 | 第15页 |
| 1.3.3 成核理论及薄膜生长 | 第15-18页 |
| 1.4 傅里叶变换 | 第18页 |
| 1.5 论文结构及研究意义 | 第18-20页 |
| 第二章 实验技术与原理 | 第20-38页 |
| 2.1 超高真空技术 | 第20-25页 |
| 2.2 低温技术 | 第25-26页 |
| 2.3 分子束外延技术 | 第26-29页 |
| 2.4 扫描隧道显微镜 | 第29-38页 |
| 2.4.1 STM的基本构造 | 第30-33页 |
| 2.4.2 STM的工作原理 | 第33-35页 |
| 2.4.3 STM的工作模式 | 第35-36页 |
| 2.4.4 扫描隧道谱 | 第36-38页 |
| 第三章 Si(111)-7×7 表面上Cd(0001)薄膜的透明 | 第38-46页 |
| 3.1 研究背景 | 第38-39页 |
| 3.2 实验部分 | 第39-40页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第40-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 横向分辨率和表面粗糙度的差异性 | 第46-54页 |
| 4.1 研究背景 | 第46-49页 |
| 4.2 实验部分 | 第49页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第49-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-54页 |
| 第五章结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 研究生期间发表论文情况 | 第64页 |