| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 术语检索 | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 课题研究的背景及意义 | 第8-11页 |
| 1.1.1 课题的来源 | 第8-9页 |
| 1.1.2 课题研究的意义 | 第9-11页 |
| 1.2 声发射技术研究的现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 世界声发射技术的发展历程和现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 中国声发射技术发展历程 | 第12-13页 |
| 1.2.3 声发射技术应用领域 | 第13-16页 |
| 1.2.4 声发射技术在硬盘磁头测试行业的应用现状 | 第16-17页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.3.1 研究目标 | 第17页 |
| 1.3.2 主要研究内容 | 第17-18页 |
| 第二章 动态测试中磁头碰碟的声发射的特征参数研究 | 第18-31页 |
| 2.1 动态测试声发射系统简介 | 第18-20页 |
| 2.1.1 声发射传感器的设计 | 第18-19页 |
| 2.1.2 前置放大器设计 | 第19-20页 |
| 2.1.3 滤波和A/D转换电路设计 | 第20页 |
| 2.2 磁头碰碟时的声发射信号分析 | 第20-27页 |
| 2.2.1 声发射信号单参数分析方法 | 第20-22页 |
| 2.2.2 磁头碰碟声发射的实验设备与方法 | 第22-23页 |
| 2.2.3 磁头碰碟前后声发射的对比 | 第23-27页 |
| 2.3 磁头碰碟的声发射的特征参数确定 | 第27-29页 |
| 2.4 磁头碰碟的声发射特征参数的通用性验证 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 动态测试中声发射干扰噪音的研究及消除 | 第31-42页 |
| 3.1 AE检测面临的干扰噪声主要有下面几种 | 第31-32页 |
| 3.1.1 电气干扰噪声 | 第31页 |
| 3.1.2 机械噪声源 | 第31页 |
| 3.1.3 声波传播途径引起的声信号畸变和衰减 | 第31-32页 |
| 3.2 克服干扰噪声的常用方法 | 第32-33页 |
| 3.3 动态测试中的噪音类型及改善方法 | 第33-41页 |
| 3.3.1 空间电磁干扰 | 第34-35页 |
| 3.3.2 压缩空气干扰 | 第35-36页 |
| 3.3.3 电路中的电感振动 | 第36-38页 |
| 3.3.4 动态测试仪的马达振动噪音 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 实验及结果分析 | 第42-52页 |
| 4.1 实验设备 | 第42-44页 |
| 4.1.1 扫描电子显微镜（SEM，Scanning Electron Microscope） | 第42-43页 |
| 4.1.2 原子力显微镜（AFM，Atomic Force Microscope） | 第43页 |
| 4.1.3 光学表面分析仪（OSA，Optical Surface Analyzer） | 第43-44页 |
| 4.2 磁头磨损测试 | 第44-49页 |
| 4.2.1 用AFM来评估磁头磨损的深度 | 第44-47页 |
| 4.2.2 用SEM来评估批量生产中磁头磨损情况 | 第47-49页 |
| 4.3 磁头触碟测试对磁碟润滑层的损耗的评估 | 第49页 |
| 4.4 磁头飞行高度的重复性测试 | 第49-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 总结与展望 | 第52-53页 |
| 5.1 本文总结 | 第52页 |
| 5.2 展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第57-60页 |
| 附件 | 第60页 |
