| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| 1.1 数据压缩研究背景 | 第15-20页 |
| 1.1.1 集成电路发展历程 | 第16-17页 |
| 1.1.2 SOC测试压缩背景 | 第17-18页 |
| 1.1.3 SOC测试压缩面临的瓶颈 | 第18-19页 |
| 1.1.4 课程研究意义 | 第19-20页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第20-21页 |
| 1.3 论文各章节安排 | 第21-22页 |
| 第二章 SOC测试技术简介 | 第22-30页 |
| 2.1 测试概述 | 第22-24页 |
| 2.1.1 SOC测试介绍 | 第22页 |
| 2.1.2 SOC测试相关知识 | 第22-24页 |
| 2.2 SOC测试故障模型和测试生成 | 第24-26页 |
| 2.2.1 故障类型分类 | 第25页 |
| 2.2.2 测试生成 | 第25-26页 |
| 2.3 测试方法研究 | 第26-29页 |
| 2.3.1 内建自测试技术和外建自测试技术 | 第26-29页 |
| 2.3.2 测试紧缩技术 | 第29页 |
| 2.4 小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于SOC测试压缩概述 | 第30-43页 |
| 3.1 几种常见的编码方法 | 第30-35页 |
| 3.1.1 Golomb编码 | 第31-32页 |
| 3.1.2 FDR编码 | 第32-33页 |
| 3.1.3 交替与连续编码 | 第33-35页 |
| 3.2 统计压缩方法 | 第35-42页 |
| 3.2.1 熵理论 | 第35-36页 |
| 3.2.2 Huffman编码 | 第36-38页 |
| 3.2.3 选择Huffman编码 | 第38-39页 |
| 3.2.4 最佳选择Huffman编码 | 第39-41页 |
| 3.2.5 九值编码 | 第41-42页 |
| 3.3 小结 | 第42-43页 |
| 第四章 基于多个连续数据复制的幂次划分数据压缩方法 | 第43-52页 |
| 4.1 连续复制幂次划分方法 | 第43-45页 |
| 4.1.1 连续数据复制的幂次划分基本思想 | 第43-44页 |
| 4.1.2 幂次划分实例 | 第44-45页 |
| 4.1.3 多个连续数据复制的幂次划分数据集实例 | 第45页 |
| 4.2 算法分析 | 第45-46页 |
| 4.3 理论分析 | 第46-48页 |
| 4.4 解码电路设计 | 第48-49页 |
| 4.5 实验结果 | 第49-51页 |
| 4.6 小结 | 第51-52页 |
| 第五章 总结和展望 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-61页 |
| 作者读研期间所取得的读研成果 | 第61页 |