| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10-13页 |
| ·相关领域的研究现状 | 第13-15页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第15-18页 |
| 第2章 CCD 光电参数测试方法研究 | 第18-34页 |
| ·CCD 噪声研究 | 第18-24页 |
| ·CCD 3D 噪声 | 第18-21页 |
| ·暗电流 | 第21-22页 |
| ·读出噪声 | 第22-23页 |
| ·光照条件下图形噪声 | 第23-24页 |
| ·CCD 光电响应参数测试方法研究 | 第24-29页 |
| ·光响应非均匀性 | 第24-25页 |
| ·信噪比测试方法研究 | 第25-29页 |
| ·光谱响应参数测试方法研究 | 第29-31页 |
| ·测试方法研究 | 第29-30页 |
| ·测试原理及测试装置描述 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-34页 |
| 第3章 CCD 光电参数测试系统整体设计及性能测试 | 第34-56页 |
| ·系统硬件平台设计及搭建 | 第34-41页 |
| ·双积分球等色温连续调光光源设计 | 第34-38页 |
| ·单色仪复合光源室设计 | 第38-40页 |
| ·硬件平台整体搭建 | 第40-41页 |
| ·上位机软件编写 | 第41-48页 |
| ·软件平台整体架构 | 第41-43页 |
| ·模块化实现 | 第43-48页 |
| ·系统性能评价 | 第48-53页 |
| ·积分球光源辐照度均匀性测试 | 第48-50页 |
| ·CCD 成像电子学系统增益测试 | 第50-53页 |
| ·系统辐照度计标定 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第4章 CCD 光电参数测试及结果分析 | 第56-74页 |
| ·待测 SONY ICX285 面阵 CCD 简介 | 第56-57页 |
| ·CCD 噪声测试结果 | 第57-61页 |
| ·暗电流测试 | 第57-58页 |
| ·读出噪声与系统噪声测试 | 第58-59页 |
| ·全数码范围内光照下图形噪声测试 | 第59-61页 |
| ·CCD 光电响应参数测试结果及分析 | 第61-64页 |
| ·全数码范围内光响应非均匀性测试结果 | 第61-62页 |
| ·线性区信噪比测试及理论验证 | 第62-64页 |
| ·光谱响应相关参量测试结果及不确定度分析 | 第64-72页 |
| ·标准探测器的选择 | 第64-65页 |
| ·光谱响应测试实验 | 第65-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 结论和展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第80-81页 |
| 指导教师及作者简介 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82页 |