| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景及目的 | 第9-10页 |
| ·相关背景 | 第9-10页 |
| ·研究目的 | 第10页 |
| ·三维可视化技术国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·国外研究现状 | 第10-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12-13页 |
| ·论文内容的章节安排 | 第13页 |
| ·本章小结 | 第13-14页 |
| 第二章 面向电子封装的ＣＴ图像预处理技术 | 第14-32页 |
| ·三维可视化检测技术介绍 | 第14-15页 |
| ·图像增强 | 第15-17页 |
| ·伪影校正 | 第17-18页 |
| ·灰度调整 | 第18-19页 |
| ·边缘检测 | 第19-21页 |
| ·图像分割 | 第21-24页 |
| ·实验及分析 | 第24-31页 |
| ·滤波去噪 | 第24-25页 |
| ·灰度修正 | 第25-26页 |
| ·边缘处理 | 第26-30页 |
| ·提出基于分位数图的图像分割方法 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 面向电子封装的CT图像基于MC算法的三维可视化 | 第32-41页 |
| ·三维重建算法分析 | 第32-36页 |
| ·面绘制算法 | 第32-33页 |
| ·体绘制算法 | 第33-36页 |
| ·MC 算法原理 | 第36-37页 |
| ·基于 MATLAB 的经典 MC 算法三维重建 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 基于最小二乘 B 样条改进算法的三维可视化 | 第41-51页 |
| ·最小二乘曲线拟合 | 第41-43页 |
| ·线性拟合 | 第41-42页 |
| ·非线性拟合 | 第42-43页 |
| ·最小二乘 B 样条 | 第43-46页 |
| ·连续 B 样条函数 | 第43-44页 |
| ·离散 B 样条函数 | 第44页 |
| ·B 样条变换 | 第44-45页 |
| ·最小二乘 B 样条 | 第45-46页 |
| ·最小二乘 B 样条轮廓拟合 | 第46-47页 |
| ·最小二乘 B 样条的重建优化算法 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 基于 GUI 实现的三维可视化检测系统 | 第51-55页 |
| ·GUIDE 开发环境介绍 | 第51-52页 |
| ·GUI 工作流程 | 第52-53页 |
| ·实验结果分析 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 全文总结 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 附件 | 第63页 |