| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-28页 |
| ·测试目的和作用 | 第14-15页 |
| ·测试类型 | 第15-16页 |
| ·测试中的挑战 | 第16-17页 |
| ·故障模型 | 第17-19页 |
| ·测试向量自动生成 | 第19-20页 |
| ·故障模拟 | 第20-21页 |
| ·自动测试仪 | 第21页 |
| ·可测性设计 | 第21-25页 |
| ·本文的贡献及章节安排 | 第25-28页 |
| 第2章 测试数据压缩及低功耗测试研究概述 | 第28-47页 |
| ·测试数据压缩 | 第28-40页 |
| ·测试压缩分类 | 第30页 |
| ·测试数据中的无关位 | 第30-32页 |
| ·测试激励压缩方法 | 第32-40页 |
| ·测试功耗 | 第40-46页 |
| ·功耗模型 | 第40-42页 |
| ·低功耗测试技术分类 | 第42-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第3章 基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法 | 第47-61页 |
| ·传统的BIST | 第47-49页 |
| ·传统的BIST结构 | 第47-48页 |
| ·传统BIST存在的问题 | 第48-49页 |
| ·BIST小结 | 第49页 |
| ·基于轮流扫描捕获的BIST | 第49-52页 |
| ·BCIT结构和测试原理介绍 | 第49-51页 |
| ·BCIT硬件开销 | 第51-52页 |
| ·BCIT性能分析 | 第52-54页 |
| ·BCIT测试效率分析 | 第52-53页 |
| ·测试应用时间分析 | 第53-54页 |
| ·BCIT方案的重播种 | 第54-56页 |
| ·LFSR重播种技术简介 | 第54-55页 |
| ·BCIT方案的种子产生算法 | 第55-56页 |
| ·实验结果与分析 | 第56-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第4章 LFSR重播种环境下基于扫描块的编码测试方法 | 第61-74页 |
| ·LFSR重播种 | 第61-62页 |
| ·ESB测试方案 | 第62-65页 |
| ·基于扫描块的编码算法 | 第62-63页 |
| ·减少控制数据 | 第63-65页 |
| ·扫描块重聚类 | 第65-69页 |
| ·扫描块重聚类的形式化描述 | 第65-66页 |
| ·扫描块重聚类算法 | 第66-69页 |
| ·ESB测试方案的硬件结构 | 第69-70页 |
| ·ESB测试方案的硬件开销分析 | 第70页 |
| ·实验结果分析 | 第70-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 第5章 基于线性解压器压缩环境下的低功耗测试 | 第74-89页 |
| ·时延测试与电源噪声 | 第74-77页 |
| ·RESB测试方案 | 第77-79页 |
| ·RESB算法 | 第77页 |
| ·RESB测试方案的结构 | 第77-79页 |
| ·RESB测试方案的结构开销 | 第79页 |
| ·RESB测试方案中的X填充 | 第79-84页 |
| ·总体的测试功耗减少流程 | 第84页 |
| ·实验结果分析 | 第84-88页 |
| ·小结 | 第88-89页 |
| 第6章 选择性扫描捕获的低功耗测试方案 | 第89-98页 |
| ·引言 | 第89-90页 |
| ·选择性扫描捕获的低功耗测试方案 | 第90-94页 |
| ·选择性捕获 | 第90-91页 |
| ·选择性扫描捕获 | 第91-92页 |
| ·测试立方排序 | 第92-94页 |
| ·选择性扫描捕获方案的测试结构 | 第94-96页 |
| ·实验结果及分析 | 第96-97页 |
| ·小结 | 第97-98页 |
| 结论 | 第98-100页 |
| 参考文献 | 第100-112页 |
| 附录A 攻读博士学位期间所发表和投稿的论文目录 | 第112-113页 |
| 附录B 攻读学位期间参加的主要科研项目 | 第113-114页 |
| 致谢 | 第114页 |