碲锌镉像素阵列核探测器研究分析
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-13页 |
·研究意义 | 第8页 |
·研究背景 | 第8-10页 |
·核辐射探测器的发展 | 第8-9页 |
·国内背景 | 第9页 |
·国外背景 | 第9-10页 |
·CZT 探测器的 3 种基本结构 | 第10-11页 |
·研究目标 | 第11-12页 |
·论文主要研究内容 | 第12-13页 |
2 半导体探测器 | 第13-24页 |
·半导体的应用 | 第13-17页 |
·半导体晶体与射线的相互反应 | 第13-15页 |
·晶体内部的反应原理 | 第15-16页 |
·半导体的缺陷 | 第16-17页 |
·核探测器晶体特点 | 第17页 |
·CZT 晶体 | 第17-24页 |
·CZT 晶体结构 | 第18-19页 |
·CZT 晶体的生长 | 第19页 |
·CZT 晶体的缺陷 | 第19-20页 |
·CZT 核探测器的电极 | 第20-23页 |
·晶体的辐射损坏 | 第23-24页 |
3 CZT 核探测器系统 | 第24-41页 |
·CZT 核探测器的基本组成 | 第24页 |
·核辐射线源 | 第24-26页 |
·X 射线及γ射线简介 | 第24-25页 |
·实验采用过的射线源 | 第25-26页 |
·高压电源 | 第26-28页 |
·高压模块 | 第26-27页 |
·高压电源 | 第27-28页 |
·像素电极表面特性及电极信号引出 | 第28-30页 |
·像素电极 | 第28-29页 |
·电极信号引出 | 第29-30页 |
·外围读出电路 | 第30-41页 |
·前置放大器 | 第30-35页 |
·整形放大电路 | 第35-41页 |
4 系统噪声分析 | 第41-47页 |
·系统噪声分类 | 第41-42页 |
·热噪声 | 第41页 |
·低频电压噪声 | 第41页 |
·散粒噪声 | 第41-42页 |
·晶体管中的噪声 | 第42页 |
·前置放大器的噪声分析 | 第42-44页 |
·小像素效应和法诺因子 | 第44-45页 |
·小像素效应 | 第44页 |
·Shockley-Ramo 定理 | 第44-45页 |
·Fano 因子 | 第45-46页 |
·能量分辨率 | 第46-47页 |
5 CZT 像素阵列核探测器的相关实验 | 第47-53页 |
·实验准备 | 第47页 |
·CdZnTe 核探测器成像信号处理 | 第47-48页 |
·脉冲信号的数字化及寻峰处理 | 第48-51页 |
·面元像素 CdZnTe 探测器能谱实验测试 | 第51-53页 |
6 总结及展望 | 第53-55页 |
·总结 | 第53-54页 |
·CZT 核探测器展望 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
附录 | 第59页 |
作者在硕士期间发表的论文目录 | 第59页 |