电子束选区熔化数字式扫描控制系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-26页 |
| ·电子束选区熔化技术概述 | 第8-21页 |
| ·快速制造技术概述 | 第8-16页 |
| ·电子束选区熔化成形原理及发展现状 | 第16-21页 |
| ·电子束选区熔化成形复杂精密零件 | 第21-22页 |
| ·电子束选取熔化成形复杂精密零件的优势 | 第21页 |
| ·电子束选区熔化成形较大尺寸精密零件的限制 | 第21-22页 |
| ·课题意义和目标 | 第22-25页 |
| ·原扫描控制系统构成和缺陷 | 第22-24页 |
| ·扫描控制系统的改进目标 | 第24-25页 |
| ·论文主要研究内容 | 第25-26页 |
| 第2章 数字式扫描控制系统的开发 | 第26-37页 |
| ·电子束扫描控制系统的硬件选择 | 第26-27页 |
| ·电子束偏转误差及聚焦纠正对硬件的要求 | 第26页 |
| ·数据下载速率对硬件的要求 | 第26-27页 |
| ·选定数模转换卡的参数 | 第27页 |
| ·数字式扫描控制系统中零件层片信息的存储 | 第27-32页 |
| ·原扫描控制系统中零件层片信息的存储 | 第27-29页 |
| ·数字式扫描控制系统中零件层片信息的存储方式 | 第29-32页 |
| ·数字式扫描控制软件的 VC++编程实现 | 第32-35页 |
| ·多线程时序控制 | 第33页 |
| ·粉末预热模式的改变 | 第33-34页 |
| ·偏转误差纠正和动态聚焦的实现 | 第34页 |
| ·其它功能的实现 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第3章 电子束扫描偏转误差的数字式纠正方法 | 第37-50页 |
| ·前言 | 第37页 |
| ·电子束扫描偏转误差的产生原理 | 第37-40页 |
| ·电子束通过有界匀强磁场的偏转量 | 第37-38页 |
| ·电子束偏转误差分析 | 第38-40页 |
| ·非线性偏转误差纠正方案分析 | 第40-41页 |
| ·更改线圈设计减小偏转误差 | 第40页 |
| ·偏转数字控制量补偿减小偏转误差 | 第40-41页 |
| ·纠偏参考点提取的图形处理算法 | 第41-47页 |
| ·Harris角点检测原理 | 第43页 |
| ·角点提取效果分析 | 第43-45页 |
| ·像素坐标到实际坐标的转换 | 第45-47页 |
| ·插值算法获取纠正后的偏转控制量 | 第47-49页 |
| ·数字式非线性偏差纠正的插值算法 | 第47-48页 |
| ·数字式非线性误差纠偏的实验效果 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 电子束动态聚焦的数字式实现方法 | 第50-59页 |
| ·前言 | 第50-51页 |
| ·电子束在磁场中的聚焦 | 第51-54页 |
| ·电子束的磁聚焦原理 | 第51-53页 |
| ·电子束散焦分析 | 第53-54页 |
| ·电子束动态聚焦补偿的理论计算 | 第54页 |
| ·电子束动态聚焦的实现方案 | 第54-57页 |
| ·电子束动态聚焦的应用 | 第57-58页 |
| ·动态聚焦扫描效果 | 第57页 |
| ·动态聚焦技术的其它用途 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 电子束动态聚焦方式的光栅式扫描 | 第59-69页 |
| ·电子束光栅式扫描方案 | 第59-63页 |
| ·栅极偏压高速关断的实现方式 | 第60-61页 |
| ·电子束束闸的实现方式 | 第61-63页 |
| ·电子束动态聚焦的实现方式 | 第63页 |
| ·电子束动态聚焦的光栅式扫描 | 第63-65页 |
| ·零件成形层面的存储方式 | 第63-64页 |
| ·动态聚焦方式的光栅式扫描的优点 | 第64-65页 |
| ·电子束动态聚焦的光栅式扫描验证 | 第65-67页 |
| ·动态聚焦光栅式扫描光板扫描效果 | 第65-67页 |
| ·散焦扫描对粉末区的影响 | 第67页 |
| ·动态聚焦光栅式扫描的可行性 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第6章 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第74页 |
