摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-12页 |
1 绪论 | 第12-25页 |
·自动测试系统的发展 | 第12-19页 |
·ATS 发展的基本状况 | 第12-15页 |
·电子材料与元器件测量的发展及其特点 | 第15-16页 |
·国内外热敏元件自动测试系统的研究状况 | 第16-19页 |
·热敏元件自动测试的作用和意义 | 第19-20页 |
·热敏元件综合特性测试设备ATS 的关键技术分析 | 第20-23页 |
·综合测试系统模型的提出 | 第21页 |
·硬件系统及软件系统的设计 | 第21-22页 |
·智能FUZZY 控制技术在高精度温度控制中的应用 | 第22页 |
·硬件和软件抗干扰技术的研究 | 第22-23页 |
·其他关键技术研究 | 第23页 |
·论文内容安排 | 第23-25页 |
2 热敏元件综合特性自动测试系统硬件集成技术 | 第25-62页 |
·热敏元件自动测试系统硬件组成 | 第25-27页 |
·PCI 总线概述 | 第27-29页 |
·数据采集卡及多通道隔离数字输出卡 | 第29-30页 |
·PCI-1710HG 数据采集卡 | 第29-30页 |
·PCI-1752 多通道隔离数字输出卡 | 第30页 |
·开关系统设计 | 第30-34页 |
·程控电源设计 | 第34-46页 |
·程控恒流源设计 | 第34-40页 |
·程控交流电源设计 | 第40页 |
·程控脉冲电压源设计 | 第40-46页 |
·零功率电阻-温度特性测试模块 | 第46-49页 |
·32 工位热敏电阻切换控制 | 第47-49页 |
·电压效应特性测试模块 | 第49-54页 |
·静态伏-安特性测试模块 | 第54-58页 |
·电流-时间特性测试模块 | 第58-61页 |
·小结 | 第61-62页 |
3 模糊逻辑控制理论在热敏元件温度控制中的应用研究 | 第62-87页 |
·模糊控制理论概述 | 第62-63页 |
·模糊控制理论基础 | 第63-65页 |
·模糊控制系统 | 第65-69页 |
·PID 控制原理 | 第69-72页 |
·FUZZY-PI-PID 复合控制的设计 | 第72-85页 |
·模糊控制器设计 | 第73-81页 |
·电阻炉温控制的实现 | 第81-85页 |
·小结 | 第85-87页 |
4 系统软件设计 | 第87-104页 |
·开发平台的选择 | 第87-88页 |
·热敏元件测试系统软件总的层次及结构 | 第88页 |
·热敏元件各特性的测试流程 | 第88-94页 |
·电流-时间特性测试流程 | 第89-90页 |
·静态伏-安特性测试流程 | 第90-91页 |
·零功率伏-安特性测试流程 | 第91-93页 |
·零功率电阻-温度特性测试流程 | 第93-94页 |
·各测试模块软件设计 | 第94-103页 |
·小结 | 第103-104页 |
5 提高热敏元件自动测试系统性能的技术研究 | 第104-116页 |
·硬件抗干扰技术 | 第104-111页 |
·干扰噪声源 | 第104-105页 |
·干扰的耦合途径及其抑制 | 第105-107页 |
·电路接地设计 | 第107-109页 |
·印刷电路板及电路的抗干扰设计 | 第109-110页 |
·去耦电容器的配置 | 第110-111页 |
·软件抗干扰技术 | 第111-115页 |
·数字滤波 | 第111-113页 |
·噪声中信号的恢复 | 第113-115页 |
·小结 | 第115-116页 |
6 系统运行及结果分析 | 第116-141页 |
·零功率电阻-温度特性结果分析 | 第116-121页 |
·陶瓷PTCR | 第116-120页 |
·有机高分子PTCR | 第120-121页 |
·电流-时间特性结果分析 | 第121-125页 |
·阻温特性与电流-时间特性的关系 | 第122-125页 |
·静态伏-安特性结果分析 | 第125-126页 |
·电压效应特性结果分析 | 第126-140页 |
·可调直流脉冲波形 | 第126-128页 |
·系统参数设置及测试界面 | 第128-130页 |
·测试结果分析 | 第130-140页 |
·小结 | 第140-141页 |
7 全文总结 | 第141-143页 |
致谢 | 第143-144页 |
参考文献 | 第144-151页 |
附录 攻读博士学位期间发表的论文目录 | 第151页 |