大口径可展开天线形貌光测关键技术研究
| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-18页 |
| §1.1 课题研究背景 | 第13-14页 |
| §1.2 技术背景 | 第14-16页 |
| §1.3 课题任务 | 第16页 |
| §1.4 本文主要工作 | 第16-18页 |
| 第二章 摄像机标定 | 第18-40页 |
| §2.1 摄像机标定原理 | 第19-25页 |
| ·成像模型 | 第19-22页 |
| ·求解摄像机参数 | 第22-25页 |
| §2.2 基于直线的线性模型摄像机标定 | 第25-34页 |
| ·成像模型 | 第26-27页 |
| ·算法原理 | 第27-31页 |
| ·仿真试验结果与分析 | 第31-34页 |
| §2.3 基于直线标定像差系数方法的初探 | 第34-39页 |
| ·非线性成像模型 | 第34-35页 |
| ·求解像差系数 | 第35-38页 |
| ·仿真试验结果与分析 | 第38-39页 |
| §2.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第三章 特征标志的编码与识别 | 第40-59页 |
| §3.1 特征标志的编码 | 第40-42页 |
| §3.2 图像预处理 | 第42-48页 |
| ·图像平滑 | 第42-44页 |
| ·二值化 | 第44页 |
| ·目标识别与分割 | 第44-47页 |
| ·倾斜度校正 | 第47页 |
| ·字符分割与归一化 | 第47-48页 |
| §3.3 字符识别 | 第48-58页 |
| ·模板匹配法 | 第48-52页 |
| ·特征法 | 第52-58页 |
| §3.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 特征标志的定位 | 第59-75页 |
| §4.1 常用定位方法 | 第60-62页 |
| ·形心法 | 第60页 |
| ·灰度重心法 | 第60-61页 |
| ·拟合法 | 第61-62页 |
| §4.2 圆标志的定位 | 第62-68页 |
| ·圆标志 | 第62页 |
| ·边缘检测 | 第62-64页 |
| ·求解圆标志的定位参数 | 第64-68页 |
| ·实验结果与分析 | 第68页 |
| §4.3 对顶角圆标志的定位 | 第68-74页 |
| ·对顶角 | 第68-69页 |
| ·圆形对项角标志的精确定位 | 第69-73页 |
| ·实验结果与分析 | 第73-74页 |
| §4.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 试验方案总体设计 | 第75-82页 |
| §5.1 研究目标与技术指标 | 第75-76页 |
| ·研究目标 | 第75页 |
| ·技术指标 | 第75页 |
| ·关键技术 | 第75页 |
| ·研究内容 | 第75-76页 |
| §5.2 测量总体方案 | 第76-78页 |
| ·测量方案 | 第76-77页 |
| ·测量实施步骤 | 第77-78页 |
| §5.3 技术方案 | 第78-81页 |
| ·编号特征标志设计制作和布置 | 第78页 |
| ·控制合作标志的设计制作和布置 | 第78-79页 |
| ·采图方案 | 第79页 |
| ·特征识别、匹配、提取 | 第79-80页 |
| ·天线反射面形貌初值求解 | 第80-81页 |
| ·天线反射面形貌精确值求解 | 第81页 |
| §5.4 硬件设备需求 | 第81-82页 |
| 结论与展望 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第89页 |
