基于Mie理论和K-K色散关系的颗粒材料辐射参数确定
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·研究背景与意义 | 第13-15页 |
| ·国内外研究现状 | 第15-19页 |
| ·本文研究内容 | 第19-21页 |
| 第二章 复折射率的相关理论与研究方法 | 第21-33页 |
| ·复折射率的相关理论与基本概念 | 第21-27页 |
| ·介质的折射率 | 第21页 |
| ·介质复折射率及其意义 | 第21-23页 |
| ·光的色散 | 第23页 |
| ·色散关系 | 第23-27页 |
| ·颗粒材料复折射率的研究方法 | 第27-32页 |
| ·常用的测量颗粒材料透过率实验方法 | 第27-30页 |
| ·基于Mie 理论的复折射率反演方法 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 颗粒复折射率的实验研究 | 第33-57页 |
| ·实验设备的建立 | 第33-47页 |
| ·电悬浮设备的设计 | 第33-41页 |
| ·电悬浮设备的调试 | 第41-47页 |
| ·外加电磁场对红外探测的影响 | 第47-52页 |
| ·外加电磁场对红外探测影响的理论分析 | 第47-48页 |
| ·直流静电场对红外探测影响的实验研究 | 第48-52页 |
| ·实验结果 | 第52-56页 |
| ·悬浮室对红外探测的影响 | 第52-53页 |
| ·颗粒层厚度和浓度对红外探测的影响规律 | 第53-55页 |
| ·颗粒的透过率光谱 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 颗粒复折射率的反演 | 第57-82页 |
| ·反演程序设计 | 第57-60页 |
| ·颗粒粒径分布函数的确定 | 第57-58页 |
| ·反演程序中变量参数的确定 | 第58-59页 |
| ·最小化方法 | 第59-60页 |
| ·反演程序的调试 | 第60-76页 |
| ·K-K 关系式的简化 | 第61-65页 |
| ·Mie 理论 | 第65-68页 |
| ·反演中自变量参数约束范围的确定 | 第68-72页 |
| ·不同初始值对反演结果的影响 | 第72页 |
| ·粒径分布函数对反演结果的影响 | 第72-76页 |
| ·反演结果与分析 | 第76-81页 |
| ·基于窗片法的反演结果 | 第76-77页 |
| ·基于电悬浮方法的反演结果 | 第77-79页 |
| ·基于压片法的反演结果 | 第79-80页 |
| ·各种结果的比较及分析 | 第80-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第五章 总结与展望 | 第82-84页 |
| ·本文结论 | 第82-83页 |
| ·未来工作展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第89页 |
