离线式单片AC/DC开关电源集成电路的设计
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-16页 |
| §1.1 课题背景 | 第6-7页 |
| §1.2 电源技术的发展及其对集成电路的要求 | 第7-11页 |
| §1.2.1 线性电源 | 第7-8页 |
| §1.2.2 开关电源 | 第8-11页 |
| §1.3 功率集成电路的特点及发展 | 第11-15页 |
| §1.3.1 电路设计上的特点 | 第12-13页 |
| §1.3.2 功率器件制作上的特点 | 第13-14页 |
| §1.3.3 芯片面积与成本考虑上的特点 | 第14页 |
| §1.3.4 保护措施方面的特点 | 第14页 |
| §1.3.5 管壳封装上的特点 | 第14-15页 |
| §1.4 本论文的工作 | 第15-16页 |
| 第二章 离线式AC／DC开关电源芯片的特点及应用 | 第16-25页 |
| §2.1 DC／DC电源电路原理介绍 | 第16-19页 |
| §2.2 本开关电源芯片及应用电路的介绍 | 第19-25页 |
| §2.2.1 内部结构 | 第19-20页 |
| §2.2.2 管脚功能和性能参数 | 第20-21页 |
| §2.2.3 应用电路 | 第21-25页 |
| 第三章 内部功能模块的电路设计 | 第25-53页 |
| §3.1 主回路电路原理和分析 | 第25-38页 |
| §3.1.1 偏置电路 | 第25-29页 |
| §3.1.2 误差放大器 | 第29-31页 |
| §3.1.3 锯齿波发生器 | 第31-33页 |
| §3.1.4 脉宽调制比较器 | 第33-35页 |
| §3.1.5 驱动电路 | 第35-36页 |
| §3.1.6 逻辑组合电路 | 第36-38页 |
| §3.2 保护电路的设计 | 第38-50页 |
| §3.2.1 温度保护电路 | 第38-41页 |
| §3.2.2 过流保护电路 | 第41-45页 |
| §3.2.3 欠压保护电路 | 第45-48页 |
| §3.2.4 软启动电路 | 第48-50页 |
| §3.3 整体电路的分析 | 第50-53页 |
| §3.3.1 起始情况分析 | 第50-51页 |
| §3.3.2 非正常工作情况分析 | 第51页 |
| §3.3.3 整体性能分析 | 第51-53页 |
| 第四章 流片模块的测试 | 第53-62页 |
| §4.1 测试电路的介绍 | 第53-55页 |
| §4.2 各模块的测试 | 第55-62页 |
| §4.2.1 基准源的测试 | 第55-59页 |
| §4.2.2 锯齿波发生器的测试 | 第59页 |
| §4.2.3 逻辑组合电路的测试 | 第59-60页 |
| §4.2.4 欠压保护电路的测试 | 第60页 |
| §4.2.5 过流保护电路的测试 | 第60-61页 |
| §4.2.6 8分频电路的测试 | 第61-62页 |
| 第五章 高压功率LDMOS的设计 | 第62-77页 |
| §5.1 高压集成电路中的终端技术 | 第62-67页 |
| §5.1.1 场限环(FLR)技术 | 第62-63页 |
| §5.1.2 场板及有关技术 | 第63-64页 |
| §5.1.3 RESURF技术 | 第64-67页 |
| §5.2 LDMOS管的设计原理及具体实现 | 第67-73页 |
| §5.2.1 LDMOS管的设计原理 | 第68-69页 |
| §5.2.2 LDMOS管的具体实现 | 第69-73页 |
| §5.3 开关电源芯片BCD工艺步骤的设计 | 第73-77页 |
| 第六章 器件仿真工具MEDICI的介绍 | 第77-86页 |
| §6.1 MEDICI的介绍 | 第77-82页 |
| §6.1.1 可分析的器件与效应 | 第77页 |
| §6.1.2 物理模型 | 第77-81页 |
| §6.1.3 边界条件 | 第81-82页 |
| §6.1.4 Medici的输入文件 | 第82页 |
| §6.1.5 Medici的输出文件 | 第82页 |
| §6.2 LDMOS管的仿真程序 | 第82-86页 |
| 总结 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
