| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 插图索引 | 第10-12页 |
| 附表索引 | 第12-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-28页 |
| ·以芯核为基础的SOC 设计 | 第13-16页 |
| ·一般IC 的设计流程 | 第14-15页 |
| ·以芯核为基础的SoC 设计过程 | 第15-16页 |
| ·以芯核为基础的SOC 测试 | 第16-22页 |
| ·芯核级测试 | 第17-18页 |
| ·系统级测试 | 第18-19页 |
| ·系统级 DFT | 第19-21页 |
| ·自动测试设备 | 第21-22页 |
| ·SOC 测试研究状况和面临问题 | 第22-27页 |
| ·SoC 测试费用 | 第22-24页 |
| ·SoC 研究状况 | 第24-25页 |
| ·SoC 测试面临问题 | 第25-27页 |
| ·本文主要研究主要内容和组织 | 第27-28页 |
| 第2章 低功耗内建自测试的原理和结构 | 第28-37页 |
| ·简介 | 第28页 |
| ·内建自测试（BIST） | 第28-32页 |
| ·线性反馈寄存器（LFSR） | 第30-31页 |
| ·测试响应分析 | 第31-32页 |
| ·低功耗BIST 原理和结构 | 第32-37页 |
| ·低功耗 BIST 的结构 | 第33-34页 |
| ·测试向量排序问题 | 第34-37页 |
| 第3 章 本文用到的相关工具简介 | 第37-48页 |
| ·HOPE 工具简介 | 第37-41页 |
| ·基本概念 | 第37-38页 |
| ·减少并行模拟的故障 | 第38-39页 |
| ·功能故障注入 | 第39-40页 |
| ·新的故障分组方法 | 第40-41页 |
| ·GALIB 工具简介 | 第41-44页 |
| ·SIS 工具简介 | 第44-46页 |
| ·STG 执行优化与状态最小化 | 第44-45页 |
| ·状态分配 | 第45页 |
| ·STG 萃取 | 第45页 |
| ·网表执行优化 | 第45页 |
| ·组合优化 | 第45-46页 |
| ·时序优化 | 第46页 |
| ·信号转变图的执行优化 | 第46页 |
| ·小结 | 第46-48页 |
| 第4章 以系统级BIST 策略为基础的 SOC 测试 | 第48-54页 |
| ·简介 | 第48-49页 |
| ·SOC 系统级的低功耗 BIST 结构 | 第49-53页 |
| ·SoC 测试分组调度算法 | 第50-51页 |
| ·SoC 系统级BIST 结构 | 第51-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第5章 故障模拟、向量排序和映射逻辑的实现 | 第54-67页 |
| ·用 HOPE 实现故障模拟和有用测试向量的提取 | 第54-57页 |
| ·HOPE 的安装和运行环境及用法简介 | 第54-56页 |
| ·在linux 环境下用改进的HOPE 得到有用测试向量 | 第56页 |
| ·HOPE 的实验结果与小结 | 第56-57页 |
| ·用 GALIB 工具对测试向量排序 | 第57-61页 |
| ·测试向量排序和旅行商问题 | 第58页 |
| ·用 GALIB 解决向量排序问题 | 第58-60页 |
| ·GALIB 的实验结果与小结 | 第60-61页 |
| ·用 SIS 对映射逻辑进行面积优化 | 第61-64页 |
| ·mapping 逻辑和相应的BLIF | 第61-62页 |
| ·用 SIS 工具对映射逻辑进行优化 | 第62-64页 |
| ·系统级 BIST 策略的实验结果 | 第64-65页 |
| ·小结 | 第65-67页 |
| 第6章 基于状态种子的 BIST 策略 | 第67-74页 |
| ·简介 | 第67页 |
| ·LFSR 状态种子及其运行情况的统计和分析 | 第67-69页 |
| ·状态种子及运行时间的计算 | 第67-68页 |
| ·种子状态的统计和分析 | 第68-69页 |
| ·基于状态种子的BIST 策略 | 第69-70页 |
| ·基于状态种子BIST 策略的模拟仿真及实验结果 | 第70-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 结束语 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的论文和参加的项目 | 第82页 |