第1章 绪论 | 第1-42页 |
·引言 | 第14-17页 |
·传质相界面积的测试技术 | 第17页 |
·传质相界面积的理论研究 | 第17-23页 |
·单气泡的研究 | 第18-19页 |
·多气泡或液滴的研究 | 第19-23页 |
·气泡或液滴的聚并模型 | 第23-37页 |
·气泡或液滴碰撞频率 | 第23-24页 |
·气泡或液滴聚并效率 | 第24-37页 |
·本课题的研究意义、研究目的及内容 | 第37-42页 |
·研究意义 | 第37-39页 |
·研究目的及内容 | 第39-42页 |
第2章 聚并过程的简单耦合模型 | 第42-60页 |
·引言 | 第42-43页 |
·Stefan-Reynolds减薄模型 | 第43页 |
·Svendsen & Luo's靠近模型 | 第43-44页 |
·靠近-减薄耦合模型及讨论 | 第44-59页 |
·模型计算值与文献值的比较 | 第45-47页 |
·液膜厚度随时间的变化规律 | 第47-52页 |
·平面间挤压力随时间的变化规律 | 第52-56页 |
·两流体颗粒半径之比和初始靠近速度的影响 | 第56-58页 |
·物性参数的影响 | 第58-59页 |
·小结 | 第59-60页 |
第3章 宽高径比的液膜减薄模型 | 第60-84页 |
·引言 | 第60页 |
·控制方程 | 第60-61页 |
·压力方程 | 第61-72页 |
·压力方程的解析解Ⅰ | 第63-64页 |
·压力方程的解析解Ⅱ | 第64-66页 |
·压力在液膜内的分布 | 第66-72页 |
·速度方程在拟稳态情况下的解析解 | 第72-80页 |
·齐次方程的通解 | 第73-74页 |
·速度方程的解析解Ⅰ | 第74-77页 |
·速度方程的解析解Ⅱ | 第77-80页 |
·液膜减薄模型 | 第80-82页 |
·小结 | 第82-84页 |
第4章 靠近过程模型的改进 | 第84-86页 |
·引言 | 第84页 |
·靠近过程模型的改进 | 第84页 |
·结果与讨论 | 第84-85页 |
·小结 | 第85-86页 |
第5章 聚并过程耦合模型 | 第86-113页 |
·引言 | 第86-87页 |
·聚并过程概率模型 | 第87-90页 |
·初始液膜厚度的确定 | 第87-88页 |
·初始液膜半径的确定 | 第88页 |
·液膜破裂临界厚度 | 第88-90页 |
·结果与讨论 | 第90-112页 |
·减薄方程中待定常数的影响 | 第90-95页 |
·模型计算值与文献值比较 | 第95-101页 |
·初始液膜半径的影响 | 第101-104页 |
·I_1(λ_1r_f)/I_0(λ_1r_f)=1的影响 | 第104-109页 |
·初始靠近速度的影响 | 第109-110页 |
·物性参数的影响 | 第110-112页 |
·小结 | 第112-113页 |
第6章 总结与展望 | 第113-116页 |
参考文献 | 第116-126页 |
符号说明 | 第126-130页 |
攻读博士学位期间发表的论文 | 第130-131页 |
致谢 | 第131页 |