计算机硬件电路可测试性设计与自动测试的实现
| 第一章 绪论 | 第1-15页 |
| ·测试概述 | 第10-11页 |
| ·可测试性设计技术概述 | 第11-12页 |
| ·自动测试系统概述 | 第12-13页 |
| ·本论文的主要内容 | 第13-15页 |
| 第二章 计算机硬件电路可测试性设计 | 第15-29页 |
| ·可测试性设计概述 | 第15-19页 |
| ·可测试性设计的常用方法 | 第15-17页 |
| ·边界扫描技术简介 | 第17-18页 |
| ·内建自测试技术 | 第18-19页 |
| ·某嵌入式计算机的体系结构 | 第19-25页 |
| ·CPU模块 | 第19-25页 |
| ·中央处理器(CPU芯片) | 第20-22页 |
| ·存储器保护和管理部件(MMU/COMBO芯片) | 第22-23页 |
| ·接口部件(PIC) | 第23-24页 |
| ·时钟产生及复位电路 | 第24页 |
| ·中断控制电路 | 第24页 |
| ·EPROM存储器 | 第24页 |
| ·串行通讯接口 | 第24-25页 |
| ·总线驱动电路 | 第25页 |
| ·MEM模块 | 第25页 |
| ·IO模块 | 第25页 |
| ·某嵌入式计算机可测试性设计 | 第25-27页 |
| ·芯片的自测试能力 | 第26页 |
| ·机内总线的测试性 | 第26页 |
| ·存储器的校验电路 | 第26页 |
| ·总线检测电路 | 第26-27页 |
| ·电源的电压检测电路 | 第27页 |
| ·测试专用插座 | 第27页 |
| ·信号线负载 | 第27页 |
| ·总体测试方案概述 | 第27-29页 |
| ·模块测试设备 | 第27页 |
| ·整机测试设备 | 第27-29页 |
| 第三章 自动测试系统 | 第29-45页 |
| ·VXI总线测试平台技术简介 | 第29-33页 |
| ·VXI系统的体系结构 | 第29-31页 |
| ·高速数据通路(FDC) | 第31页 |
| ·VXI总线仪器的实现 | 第31-32页 |
| ·GPIB-VXI翻译器 | 第32页 |
| ·虚拟仪器的设计 | 第32-33页 |
| ·自动测试系统的结构 | 第33-34页 |
| ·VXI测试设备组成和工作原理 | 第34-41页 |
| ·测试主模块 | 第34-39页 |
| ·测量模块 | 第39页 |
| ·零槽控制器模块 | 第39-40页 |
| ·数字IO模块 | 第40页 |
| ·多路开关 | 第40-41页 |
| ·可编程电源 | 第41页 |
| ·主适配器的设计 | 第41-42页 |
| ·子适配器的设计 | 第42-44页 |
| ·子适配器与主适配器的连接 | 第42页 |
| ·辅助电路 | 第42-44页 |
| ·小节 | 第44-45页 |
| 第四章 计算机硬件电路的测试 | 第45-75页 |
| ·静态特性测试 | 第45页 |
| ·CPU模块的测试 | 第45-52页 |
| ·芯片内部自测试 | 第46-49页 |
| ·启动ROM中的测试 | 第49-50页 |
| ·激励测试 | 第50-52页 |
| ·MEM模块的测试 | 第52-64页 |
| ·存储器的访问测试 | 第52-63页 |
| ·测试设备与被测存储器的连接 | 第53页 |
| ·读写时序的产生 | 第53-55页 |
| ·设置测试参数 | 第55页 |
| ·域的定义 | 第55-56页 |
| ·确定测试矢量 | 第56-61页 |
| ·时序产生程序的生成 | 第61-62页 |
| ·测试程序的流程 | 第62-63页 |
| ·存储器的奇偶校验测试 | 第63页 |
| ·禁止存储器功能测试 | 第63-64页 |
| ·IO模块的测试 | 第64-65页 |
| ·接口模块测试方法概述 | 第64页 |
| ·IO模块的测试步骤 | 第64-65页 |
| ·电源监控的电路 | 第64-65页 |
| ·离散量输出测试 | 第65页 |
| ·计算机整机的测试 | 第65-66页 |
| ·电源电压的测试 | 第65-66页 |
| ·离散量的中断测试 | 第66页 |
| ·机内总线状态测试 | 第66页 |
| ·测试的分析与评判 | 第66-73页 |
| ·测试的性能要求 | 第66-67页 |
| ·基本假设 | 第67页 |
| ·定性分析 | 第67页 |
| ·固有的测试性评定 | 第67-69页 |
| ·故障模拟 | 第69-70页 |
| ·测试有效性的度量 | 第70-73页 |
| ·测试结果的评判 | 第73页 |
| ·小节 | 第73-75页 |
| 第五章 结束语 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
