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基于令牌加固的自恢复容错控制器设计研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-7页
致谢第7-13页
第一章 绪论第13-18页
   ·概述第13-15页
     ·研究背景和意义第13页
     ·容错控制器研究现状第13-14页
     ·内建自测试技术研究现状第14-15页
   ·研究内容、拟解决的关键问题及创新之处第15-17页
     ·研究内容第15-16页
     ·拟解决的关键问题第16页
     ·本论文的创新之处第16-17页
   ·论文结构安排第17-18页
第二章 Bypass Pipeline自恢复结构第18-23页
   ·有限状态机第18页
   ·瞬态故障、软错误、SEU与SET第18-19页
   ·检查点、卷回操作与自恢复机制第19-20页
   ·简单的自恢复结构第20-21页
   ·Bypass Pipeline自恢复结构第21页
   ·Bypass Pipeline结构的运行过程第21-23页
第三章 Hardening Token自恢复结构第23-34页
   ·状态机拆分的原则第23页
   ·Chaitin's染色算法及其改进第23-27页
     ·Chaitin's染色算法第23-25页
     ·Chaitin's算法的改进第25-26页
     ·染色算法与状态机拆分的关系第26-27页
   ·TMR与DMR容错结构第27-29页
     ·TMR容错结构第27-28页
     ·DMR容错结构第28-29页
   ·BP结构的缺点第29-30页
   ·Hardening Token自恢复结构第30-34页
     ·子状态机部分第30-31页
     ·检错逻辑部分(checker)第31页
     ·令牌控制逻辑部分(token)第31-32页
     ·容错性能分析第32-33页
     ·NC-Verilog仿真结果第33-34页
第四章 综合与仿真概述第34-44页
   ·综合概述第34-36页
     ·综合与综合器第34-35页
     ·综合的层次第35页
     ·综合的步骤第35-36页
   ·综合工具Design Compiler简介第36-39页
     ·Design Compiler的功能第36页
     ·设计类型、输入及输出格式第36页
     ·用户界面第36-37页
     ·运用DC的设计步骤第37-38页
     ·运行及退出Design Compiler第38页
       ·synopsys_dc.setup文件第38页
     ·Design Compiler常用命令第38-39页
   ·仿真概述第39页
   ·仿真工具NC-Verilog简介第39-41页
   ·HSPICE仿真简介第41-44页
     ·Hspice输入文件的语句和格式第41-43页
     ·Hspice仿真示例第43-44页
第五章 实验方案与结果分析第44-49页
   ·实验方案及结果第44-48页
     ·C++编程第44-46页
     ·NC-Verilog仿真第46页
     ·HSPICE仿真第46-47页
     ·DC综合第47-48页
   ·结论第48-49页
第六章 结束语第49-51页
   ·总结第49页
   ·展望第49-51页
参考文献第51-55页
攻读硕士学位期间发表的论文第55页

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