摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第一章 文献综述 | 第12-25页 |
·超细二氧化硅颗粒的特性 | 第12-13页 |
·二氧化硅超细颗粒的应用 | 第13-14页 |
·超细二氧化硅颗粒的制备方法 | 第14-20页 |
·气相沉积(CVD)法 | 第14-15页 |
·化学沉淀法 | 第15-16页 |
·溶胶—凝胶法 | 第16-18页 |
·微乳液法 | 第18页 |
·超重力制备法 | 第18-19页 |
·离解法 | 第19页 |
·溶胶—喷雾干燥法 | 第19-20页 |
·超临界流体技术在微颗粒制备上的研究与应用 | 第20-22页 |
·有关超临界流体(supercriticalfluid,SCF) | 第20-21页 |
·SCF制备微颗粒 | 第21-22页 |
·SAS过程 | 第22-24页 |
·SAS过程研究的发展历史 | 第22-23页 |
·SAS-A技术及研究进展 | 第23-24页 |
·本文立意和研究内容 | 第24-25页 |
第二章 SAS-A技术从TEOS酸性溶胶中制备微纳米二氧化硅颗粒 | 第25-44页 |
·引言 | 第25-26页 |
·实验部分 | 第26-28页 |
·实验试剂及设备 | 第26-27页 |
·实验装置及方法 | 第27-28页 |
·分析方法 | 第28页 |
·实验结果与讨论 | 第28-42页 |
·陈化时间的影响 | 第29-31页 |
·溶胶流速的影响 | 第31-34页 |
·溶胶醇酯比的影响 | 第34-35页 |
·预膨胀温度的影响 | 第35-37页 |
·预膨胀压力的影响 | 第37-38页 |
·喷嘴大小的影响 | 第38-39页 |
·超临界CO_2处理结果 | 第39-41页 |
·红外光谱、比表面积、XRD分析结果 | 第41-42页 |
·小结 | 第42-44页 |
第三章 SAS-A技术从TEOS碱性溶胶中制备纳米二氧化硅颗粒 | 第44-54页 |
·引言 | 第44页 |
·实验部分 | 第44-45页 |
·实验试剂及设备 | 第44页 |
·实验装置及方法 | 第44-45页 |
·微粒分析方法 | 第45页 |
·结果与讨论 | 第45-53页 |
·醇酯比的影响 | 第46-47页 |
·溶胶流速的影响 | 第47-48页 |
·预膨胀压力的影响 | 第48-49页 |
·超临界CO_2处理结果 | 第49-50页 |
·离心分离技术制备纳米SiO_2 | 第50-51页 |
·XRD、红外光谱分析结果以及比表面积测定结果 | 第51-53页 |
·小结 | 第53-54页 |
第四章 SAS-A法从水玻璃制备超细二氧化硅 | 第54-70页 |
·引言 | 第54-55页 |
·实验部分 | 第55-56页 |
·试剂与仪器 | 第55页 |
·实验装置及方法 | 第55页 |
·微粒分析方法 | 第55-56页 |
·结果与讨论 | 第56-69页 |
·SAS-A技术处理未经离子交换的水玻璃溶胶 | 第57-58页 |
·SAS-A技术处理经离子交换的酸性溶胶 | 第58-62页 |
·SAS-A技术处理离子交换的碱性溶胶 | 第62-67页 |
·XRD、红外光谱分析结果以及比表面积测定结果 | 第67-69页 |
·小结 | 第69-70页 |
第五章 结论与建议 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-78页 |
致谢 | 第78页 |