| 中文摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-35页 |
| ·研究背景 | 第12页 |
| ·铁电晶体的特性 | 第12-18页 |
| ·电滞回线（Hysteresis loop） | 第13-14页 |
| ·铁电畴 | 第14页 |
| ·剩余极化 | 第14-15页 |
| ·疲劳 | 第15页 |
| ·保持、印记、老化和开关 | 第15-16页 |
| ·漏电流（leakage current） | 第16-18页 |
| ·居里温度(Curie temperature: Tc) | 第18页 |
| ·铋系层状钙钛矿铁电材料 | 第18-19页 |
| ·铋系层状钙钛矿压电性能 | 第19-20页 |
| ·铋层状铁电材料的电性能改性方法 | 第20-22页 |
| ·掺杂或取代 | 第20-21页 |
| ·共生 | 第21页 |
| ·固溶 | 第21-22页 |
| ·取向生长 | 第22页 |
| ·磁电材料 | 第22-24页 |
| ·本论文研究工作设计 | 第24-26页 |
| ·研究目标 | 第24-25页 |
| ·研究内容 | 第25页 |
| ·创新之处 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-35页 |
| 第二章 样品制备和实验方法 | 第35-46页 |
| ·样品制备 | 第35-38页 |
| ·固相烧结工艺 | 第35-36页 |
| ·湿化学法制备薄膜 | 第36-38页 |
| ·实验方法 | 第38-44页 |
| ·XRD 物相分析 | 第38-39页 |
| ·Raman 散射 | 第39页 |
| ·AFM 和SEM | 第39-40页 |
| ·铁电测量 | 第40-41页 |
| ·压电测量 | 第41-43页 |
| ·介电测量 | 第43-44页 |
| 参考文献 | 第44-46页 |
| 第三章 Nd 掺杂对 Bi_4Ti_3O_(12)-SrBi_4Ti_4O_(15) 共生结构电性能的影响 | 第46-76页 |
| ·引言 | 第46-48页 |
| ·实验 | 第48-49页 |
| ·样品制备 | 第48-49页 |
| ·性能表征 | 第49页 |
| ·结果和讨论 | 第49-70页 |
| ·物相分析和微观结构 | 第49-54页 |
| ·Raman 光谱分析 | 第54-57页 |
| ·铁电压电性能 | 第57-61页 |
| ·复阻抗分析 | 第61-66页 |
| ·介电测量和分析 | 第66-70页 |
| ·结论 | 第70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 第四章 不等价 B 位掺杂 Bi_4Ti_3O_(12)-SrBi_4Ti_4O_(15) 陶瓷电性能研究 | 第76-97页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·实验 | 第77-78页 |
| ·样品制备 | 第77-78页 |
| ·结构及性能表征 | 第78页 |
| ·结果和讨论 | 第78-93页 |
| ·物相分析和Rietveld 结构精修 | 第78-81页 |
| ·铁电压电性能对比分析 | 第81-84页 |
| ·复阻抗分析氧空位浓度 | 第84-87页 |
| ·介电分析 | 第87-93页 |
| ·结论 | 第93页 |
| 参考文献 | 第93-97页 |
| 第五章 铋层状材料 Bi_4Ti_3O_(12)中插入磁性离子 团的研究 | 第97-120页 |
| ·引言 | 第97-99页 |
| ·实验 | 第99-100页 |
| ·样品制备 | 第99页 |
| ·结构及性能表征 | 第99-100页 |
| ·结果和讨论 | 第100-114页 |
| ·BFTO 薄膜微观结构及表面形貌 | 第100-103页 |
| ·BFTO 薄膜的Raman 光谱分析 | 第103-105页 |
| ·BFTO 薄膜铁电性能表征和分析 | 第105-110页 |
| ·BFTO 薄膜磁性能分析 | 第110页 |
| ·BFCT 陶瓷微观结构分析 | 第110-112页 |
| ·BFCT 铁电性能分析 | 第112-113页 |
| ·BFCT 磁性能分析 | 第113-114页 |
| ·结论 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-120页 |
| 博士期间已发表的论文 | 第120-122页 |
| 致谢 | 第122页 |
