| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 绝缘材料 | 第10-12页 |
| 1.1.1 主绝缘云母带 | 第10-12页 |
| 1.1.2 绝缘材料的性能 | 第12页 |
| 1.2 定子绕组绝缘系统 | 第12-13页 |
| 1.2.1 绝缘的限制因素 | 第12-13页 |
| 1.3 绝缘的电气强度 | 第13-16页 |
| 1.3.1 绝缘的电气击穿 | 第13-14页 |
| 1.3.2 绝缘的局部放电 | 第14-16页 |
| 1.4 绝缘设计过程 | 第16-17页 |
| 1.5 本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 定子的绝缘工艺 | 第18-23页 |
| 2.1 定子绕组结构 | 第18页 |
| 2.2 成型定子线圈的加工工艺 | 第18-19页 |
| 2.3 热压成型设备简介 | 第19-22页 |
| 2.3.1 结构 | 第19-20页 |
| 2.3.2 控制 | 第20-22页 |
| 2.4 包带设备 | 第22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 绝缘劣化及诊断 | 第23-30页 |
| 3.1 热老化 | 第23-24页 |
| 3.1.1 热循环 | 第23-24页 |
| 3.1.2 热循环试验 | 第24页 |
| 3.2 电老化和电击穿 | 第24-25页 |
| 3.2.1 短时耐压试验 | 第24-25页 |
| 3.2.2 电压耐久性试验 | 第25页 |
| 3.3 多应力加速老化试验 | 第25页 |
| 3.4 介质损耗(功率)角增量试验 | 第25-27页 |
| 3.4.1 试验的目的与原理 | 第26页 |
| 3.4.2 试验方法 | 第26-27页 |
| 3.5 介质损耗(功率)角增量试验 | 第27-28页 |
| 3.5.1 试验的目的与原理 | 第27-28页 |
| 3.5.2 试验方法 | 第28页 |
| 3.5.3 试验数据分析 | 第28页 |
| 3.6 本章小结 | 第28-30页 |
| 第四章 试验设计法 | 第30-58页 |
| 4.1 试验设计法简介 | 第30页 |
| 4.2 DoE程序 | 第30-31页 |
| 4.3 DoE项目介绍 | 第31-57页 |
| 4.3.1 试验背景介绍 | 第31页 |
| 4.3.2 组成DoE小组 | 第31页 |
| 4.3.3 定义绿Y | 第31-32页 |
| 4.3.4 因子搜索 | 第32页 |
| 4.3.5 设定变量 | 第32-33页 |
| 4.3.6 因子定量研究 | 第33-47页 |
| 4.3.7 因子搜索结束,重新选定因子并设定变量(最终) | 第47-49页 |
| 4.3.8 试验设计 | 第49-50页 |
| 4.3.9 试验结果的判定 | 第50页 |
| 4.3.10 评分矩阵 | 第50-51页 |
| 4.3.11 因子分析 | 第51-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 全文总结 | 第58-59页 |
| 5.1 主要结论 | 第58页 |
| 5.2 研究展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第61-63页 |