脉冲漏磁的集成无损评估方法研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-15页 |
第一章 绪论 | 第15-22页 |
·引言 | 第15页 |
·研究意义及背景 | 第15-16页 |
·脉冲漏磁的技术特点 | 第16页 |
·集成无损评估方法研究的原因与目的 | 第16-18页 |
·国内外发展现状 | 第18-20页 |
·脉冲漏磁发展现状 | 第18-19页 |
·金属磁记忆发展现状 | 第19页 |
·巴克豪森噪声发展现状 | 第19-20页 |
·论文研究内容与结构框架 | 第20-22页 |
第二章 脉冲漏磁的集成相关理论 | 第22-33页 |
·铁磁学相关理论 | 第22-26页 |
·基本概念 | 第22-23页 |
·力磁耦合效应 | 第23页 |
·能量跃迁理论 | 第23-24页 |
·物质的磁性 | 第24-26页 |
·基于脉冲漏磁的集成无损评估原理 | 第26-29页 |
·漏磁检测原理 | 第26-27页 |
·金属磁记忆检测原理 | 第27-28页 |
·巴克豪森噪声检测原理 | 第28-29页 |
·趋肤效应 | 第29页 |
·脉冲激励 | 第29-32页 |
·脉冲激励的频谱分析 | 第29-31页 |
·脉冲激励的时域分离 | 第31-32页 |
·本章小结 | 第32-33页 |
第三章 有限元仿真与激励参数选择 | 第33-45页 |
·麦克斯韦四个方程 | 第33-34页 |
·有限元仿真 | 第34-36页 |
·漏磁信号的影响因素 | 第36-39页 |
·缺陷尺寸的影响 | 第36-37页 |
·激励频率的影响 | 第37页 |
·激励占空比的影响 | 第37-38页 |
·磁轭气隙的影响 | 第38-39页 |
·磁轭引脚间距的影响 | 第39页 |
·激励结构参数选择 | 第39-40页 |
·磁轭尺寸 | 第39-40页 |
·线圈匝数与线径 | 第40页 |
·激励的影响因素 | 第40-42页 |
·激励电压 | 第40-42页 |
·激励频率与占空比 | 第42页 |
·激励结构及激励参数的确定 | 第42-44页 |
·本章小结 | 第44-45页 |
第四章 基于脉冲漏磁集成系统的设计与实现 | 第45-52页 |
·脉冲漏磁集成系统的检测平台 | 第45-46页 |
·磁敏传感器的选型 | 第46-47页 |
·信号调理电路 | 第47-49页 |
·放大电路 | 第47页 |
·复位/置位电路 | 第47-48页 |
·Hall电路 | 第48-49页 |
·其它设备 | 第49页 |
·信号发生器 | 第49页 |
·功率放大器 | 第49页 |
·数据采集卡 | 第49页 |
·数据采集程序 | 第49-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第五章 基于脉冲漏磁信号的无损评估方法 | 第52-84页 |
·实验参数设置 | 第52-53页 |
·激励频率的选择 | 第52页 |
·激励电压的选择 | 第52页 |
·采样频率的选择 | 第52-53页 |
·标准试件 | 第53页 |
·应力加载实验平台 | 第53-54页 |
·信号预处理与滤波 | 第54-56页 |
·小波去噪 | 第55页 |
·带通滤波 | 第55-56页 |
·基于PMFL的缺陷检测 | 第56-64页 |
·表面缺陷的定位 | 第56-57页 |
·表面缺陷的深度定量 | 第57-61页 |
·亚表面缺陷的定位 | 第61-62页 |
·亚表面缺陷的深度定量 | 第62-64页 |
·基于PMR的缺陷检测 | 第64-69页 |
·PMR检测原理 | 第64-65页 |
·表面缺陷的PMR定量 | 第65-66页 |
·亚表面缺陷的PMR定量 | 第66-67页 |
·PMR信号的频谱分析 | 第67-69页 |
·应力检测 | 第69-78页 |
·金属磁记忆 | 第69-73页 |
·巴克豪森噪声 | 第73-78页 |
·脉冲漏磁的集成研究 | 第78-81页 |
·不同载荷下的RMS缺陷定位 | 第78-79页 |
·应力对脉冲漏磁信号的影响 | 第79-80页 |
·巴克豪森与金属磁记忆的互补映衬 | 第80-81页 |
·脉冲漏磁的集成无损评估方法总结 | 第81-84页 |
·缺陷检测 | 第81-82页 |
·应力检测与评估 | 第82页 |
·脉冲漏磁的集成无损评估方法 | 第82-84页 |
第六章 总结与展望 | 第84-86页 |
·工作总结 | 第84-85页 |
·研究展望 | 第85-86页 |
参考文献 | 第86-90页 |
致谢 | 第90-91页 |
在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第91页 |
攻读硕士学位期间发表论文 | 第91页 |
攻读硕士学位期间参与的项目情况 | 第91页 |